中古 HITACHI S-5000H #9163121 を販売中
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ID: 9163121
Scanning Electron Microscope (SEM)
Resolution:
0.6 nm at 30 kV
3.5 nm at 1 kV
Magnification: 30- 500x
Low magnification speed: 30-500x
High magnification speed: 250-800000x
Electron gun: Cold field emission source
Lens system: (3) Stage electromagnetic lenses
Objective: (4) Openings
Specimen exchange: Airlock type
Stage electromagnetic types: Stigmator (X,Y)
(2) Scanning coils
Specimen stage: Side entry type
Motion:
X: ±3.5 mm
Y: ±2 mm
Tilt: ±40ºC
Specimen size:
Standard holder size: 9.5 mm x 5 mm x 2.4 mm
Large specimen holder size: 20 mm x 6 mm x 2.4 mm
Power supply: 0.5-30 kV in 100 V.
HITACHI S-5000Hは、イメージング速度の向上と高解像度イメージング機能を兼ね備えた最先端の走査型電子顕微鏡(SEM)です。このSEMは、高解像度イメージング、高ラスタースキャンイメージング、高速イメージングなどのさまざまなイメージングモードを提供し、幅広い用途に対応しています。また、電子カラムによって収集される二次電子信号(SE)を画像化する独自の機能を提供します。その高度な分析機能のおかげで、材料、デバイス、ライフサイエンス研究の特性評価など、幅広い研究アプリケーションに適しています。このハイエンド機器は、優れたイメージングと分析を可能にするさまざまな高度な機能と機能を提供します。その特徴としては、広範囲のサンプルステージ移動(最大移動範囲が50mm/s)、オープンプラットフォームのマルチビューオプティクスシステム、5軸高解像度サンプルステージ、自動試料交換(ASEX)コントローラなどがあります。また、フィールド放出電子源を使用して、イメージングに可能な限り最高の明るさと解像度を提供します。HITACHI S 5000Hは、独自の画像補正技術「Dynamic Space Warp Correction (DSWC)」を採用しています。これにより、実質的に歪みのない高品質の画像を得ることができます。さらに、ASEXコントローラは、ワンタッチで複数の試料を切り替えることで、精度と速度を新たなレベルに引き上げるように設計されています。また、反復可能な試料アライメントによる高速自動試料処理も可能です。S-5000 Hには、エネルギー分散X線分光法(EDS)用の統合エネルギーフィルタも取り付けられています。ナノレベルの元素を定量的に解析して物質組成を調べることができ、結晶構造や化学的性質に関する貴重なデータが得られます。上述の高度な機能に加えて、S 5000Hには、ユーザーが簡単にシステムを操作できるようにする幅広いイメージングソフトウェアが装備されています。オペレータは、最適化されたイメージングとさまざまなサンプルの分析のためのさまざまな機能を制御することができます。また、イメージングまたは分析測定用の自動スキャン、自動表面イメージング、自動厚さ測定などのさまざまな分析オプションも提供しています。全体として、S-5000Hは、洗練された走査型電子顕微鏡に必要な優れた性能、汎用性、およびユーザビリティを提供します。HITACHI S-5000 Hは、イメージング機能や自動化機能の向上により、材料やデバイスの研究からライフサイエンス研究まで幅広い用途に適しています。
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