中古 HITACHI S-5000 #9382984 を販売中

HITACHI S-5000は、様々な種類の標本を高解像度で撮影できるように設計された高度な走査型電子顕微鏡（SEM）です。この顕微鏡は、最大200kVの高加速電圧を誇り、直径25mmまでのサンプルに対応し、SEMホルダーに搭載できる大型チャンバーを備えています。HITACHI S 5000は、高分解能イメージングと大型サンプルサイズの組み合わせにより、材料研究、故障解析、マイクロエレクトロニクス研究など、さまざまなイメージング用途に最適です。S-5000は、Wフィラメントを備えた冷たいFEG（電界放出銃）電子源を備えており、幅広い加速電圧に高い信頼性と安定した性能を提供します。銃のダストカバーは環境汚染から信頼性の高い保護を提供しますが、銃の堅牢な設計はドリフトを最小限に抑え、シャープで一貫した画像を可能にします。SEMには、放出された電子を検出するための大面積（最大340mm）セグメント化されたシンチレータ装置が含まれており、すべての倍率にわたってサンプルを高感度で検出できます。光学システムは、32〜200 mmの可変焦点距離を持つ可変開口レンズのペアを備えており、ユーザーは1本のツマミで画像の倍率を素早く変更することができます。セグメント化されたシンチレータユニットは、ベントのない検出器よりもビーム電流を増加させることができ、高速イメージング用途の電子露光時間を短縮します。元素分析のために、S 5000にはエネルギー分散X線分光計（EDS）が装備されています。EDS装置は、5つの酸化半導体検出素子を用いてX線スペクトルを取得し、デジタルイメージの定量元素解析を行うことができます。EDSツールには幅広いフィルターが装備されており、0。1から15keVまでのエネルギーを持つさまざまな要素の信号感度を調整することができます。顕微鏡は、デジタルインターフェイスの重要な利点を備えており、コンピュータや資産の他の要素との接続を可能にします。HITACHI S-5000は、取得ソフトウェアとデータ処理機能を組み合わせることで、分析やイメージングに最適な装置となります。さらに、ソフトウェアの柔軟性は、使いやすいグラフィカルユーザーインターフェイス（GUI）と、さまざまな操作のための簡単な切り替えを提供します。HITACHI S 5000では、SEM本体の自動フォーカシングや足の調整など、サンプルのスキャン手順をサポートするさまざまな自動化プロセスを備えており、サンプルを確実に証明することができます。この機能により、S-5000は信頼性の高い高性能スキャン電子顕微鏡を必要とする研究者や科学者にとって理想的な選択肢となります。