中古 HITACHI S-5000 #9241544 を販売中

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製造業者
HITACHI
モデル
S-5000
ID: 9241544
ヴィンテージ: 1998
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) Includes: STEM Accessory NORAN EDX EDX Computer EDX Control unit Manuals Sample holders: Cross section doubt tilt holder Cross section specimen holder Specimen rotation holder Faraday cup holder Quick change holder TEM Holder 1998 vintage.
HITACHI S-5000は、平坦で不規則な表面からビーム感度の高いナノコンポジットまで、さまざまなサンプルの種類を調べるために使用される走査型電子顕微鏡(SEM)です。この効率的なデバイスは、最大横分解能(検出限界)0。8〜1。0 μ mの高解像度画像をキャプチャすることができ、広範なサンプル分析を可能にします。さらに、業界をリードするZ平面分解能0。88nmの高精度3D表面測定により、微細な幾何学的および形態学的特徴の詳細な分析に最適です。HITACHI S 5000の広い視野も観察しやすくなります。このデバイスは、二次電子検出器レンズ、後方散乱電子検出器レンズ、および三重電子レンズ装置から収集される大面積画像の3信号を同時に登録する必要があります。このシステムにより、S-5000はスキャン伝送電子顕微鏡、二次電子イメージング、逆散乱電子イメージング、低電圧イメージング、高解像度イメージングなど、幅広いイメージングモードで画像をキャプチャできます。S 5000は、SEMイメージング機能に加えて、スマートオートホルダーユニット(AHSS)や自動測定制御機(AMCS)など、いくつかの高度なコンポーネントを誇っています。AHSSはサンプルの準備時間を短縮し、迅速かつ正確なサンプルアライメントを可能にします。一方、AMCSはサンプルのアライメントをユーザーに支援し、サンプルの観察と分析をより効率的にします。さらに、操作が簡単で画質に優れた直感的な機能を備えています。これらの機能により、ユーザーは自動露出制御と粗い/微調整、イメージフォーカス調整、および調整可能なパラメータの許容数を利用できます。HITACHI S-5000は、半導体業界における欠陥解析やサンプル解析から、生体試料解析・研究まで、幅広い用途に対応する優れたデバイスです。HITACHI S 5000は、優れた解像度、柔軟な機能、ユーザーフレンドリーなコントロール、優れたイメージング機能により、サンプルに隠された最高のディテールを発見したいプロフェッショナルに最適なツールです。
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