中古 HITACHI S-5000 #9210311 を販売中

HITACHI S-5000 Scanning Electron Microscope （SEM）は、様々なサンプルタイプの表面形状や地下構造を可視化するための高解像度イメージングツールです。HITACHI S 5000顕微鏡は、高度な機能を備えており、幅広いイメージング機能を備えており、産業用、研究用、製造用途において貴重なツールとなっています。S-5000の電子源は、電界放出銃によって生成され、0.5-30kVの運動エネルギーと最大0。4nmのスポットサイズの集中電子を生成することができます。コンデンサーレンズは、光学制御を可能にする絞りアセンブリで設計されており、最大300,000Xのリアルタイム分解能を提供できる広範囲の倍率レベルを可能にします。視野はまた15mmの最低の作動距離の4mmから320mmに調節可能です。この顕微鏡は、二次電子（SE）、後方散乱電子（BSE）、カソドルミネッセンス（CL）、高分解能イメージング用のインレンズ検出器など、包括的な検出およびイメージングモード機能を備えています。S 5000にはユニークな電子検出システムがあり、最大256レベルのグレースケールを提供する4つの別々の検出器チャネルの同時イメージングを可能にします。オートステージドライブシステムは、X軸とY軸で80mmのスムーズで効率的なスキャン範囲を提供します。また、HITACHI S-5000 MICrO-SCAN （MOS： MICrO-SCAN）システムは、薄いサンプルの高速断面SEMイメージング用に設計されています。加速電圧を自動調整することで、1nm/pixelの解像度で水平画像を実現します。この顕微鏡はまた、オックスフォード・インスツルメンツのEDX検出器でX線微小分析機能を提供し、サンプル内の定量元素分析を提供します。HITACHI S 5000には、画面制御とジョイスティック制御の両方を備えた直感的なユーザーインターフェースなど、分析機能を強化する機能も搭載しています。USB接続によりPCへの接続が容易になり、自動解析にも適しています。さらに、S-5000 Scanning Electron Microscopeは、自動画像およびデータ処理を容易にするさまざまなソフトウェアパッケージと、拡張動作のためのインピーダンス制御を提供します。全体的に、S 5000スキャン電子顕微鏡は、さまざまなアプリケーションで使用できる包括的で高解像度のイメージングツールです。独自の機能と拡張可能なイメージング機能を備えたこの顕微鏡は、研究、産業、製造のニーズに対応する包括的で効率的なイメージング体験をユーザーに提供します。