中古 HITACHI S-5000 #9144799 を販売中

HITACHI S-5000 Scanning Electron Microscope （SEM）は、超高解像度でサンプルの小さな特徴を画像化するために設計された洗練された装置です。集束電子ビームを利用して試料と相互作用し、二次および/または逆散乱した電子画像を生成します。SEMの電子光学系は、試料に電子ビームを集中させるために様々なレンズを採用しており、試料の高倍率を実現しています。HITACHI S 5000は、バーチャルアライメントを備えた自動サンプルステージも備えており、異なる倍率と解像度で鮮明で鮮明な画像を得ることができます。S-5000にはさまざまなイメージングオプションがあり、さまざまな解像度や倍率で画像を撮影できます。コントラストが高く、細かいディテールを簡単に識別できます。電子供給源はE-GunとSchottky電界放出銃の2種類で、解像度を最適化するために継続的に監視および鍵付きされています。さらに、色収差を除去する高解像度モノクロメータを搭載し、より広範囲のサンプル材料に対してさらにシャープな画像を提供します。さらに画質を高めるために、S 5000の電子カラムは、正確なレンズの集中と信号の収集を確実にするための強力な自動アライメントシステムを備えています。当社は、気流や熱に極めて敏感なサンプルに対応するため、環境密閉型プリスキャンチャンバーを採用しており、安定した観察条件を確保し、さらなる環境制御対策の必要性を排除してS-5000ます。さらに、SEMには、結果を自動的に解釈するためのPCベースの白黒光学システムが含まれており、データの手動解釈から推測を取り除いています。安全性に関しては、不活性な雰囲気を提供することでサンプルの汚染リスクを最小限に抑えるシステム全体のキセノンフラッシングを特徴としています。さらに、静電気防止装置を搭載し、サンプルへの静電損傷の可能性を低減します。全体として、S-5000は最小限の労力で非常に高い解像度を達成するための貴重なツールであり、得られた結果は信頼性が高く有効であることを確実にします。その豊富な実用的な機能により、スキャン電子顕微鏡の最新の進歩から最高の画質を探している任意の実験室のための理想的な選択肢です。