中古 HITACHI S-5000 #51610 を販売中

HITACHI S-5000 Scanning Electron Microscope （SEM）は、エレクトロニクスおよび材料産業における優れた分解能と生産性に最適化された強力なツールです。このSEMは、優れた速度と精度で高解像度のイメージングを実現し、要求の厳しい材料やデバイスに最適です。また、HITACHI S 5000は優れた解析機能を備えており、最先端の機器の1つです。S-5000は、高解像度イメージングを最適化するための多くの機能を備えて設計されています。装置の中心には高性能SE検出器があり、これにより、画像処理時間の短縮、高解像度、および以前のモデルよりも高いカウント速度が可能になります。このシステムにはSuperSpeed Scan Control技術も含まれており、より速く、より正確にスキャンパターンを標本全体に移動および配置できるため、解像度を最小限に抑えた高品質の画像処理が可能です。さらに、SEMには、サンプルのより正確な測定を保証するために、デジタル信号プロセッサ（DSP）が含まれています。S 5000は、QuickScanおよびTotalAnalysis向けの強力な自動ソフトウェアソリューションで、真の定量分析機能を提供します。QuickScanは、平らなサンプルを分析するための自動化された使いやすい機能を提供し、より高速なサンプルイメージングと標本分析を可能にします。TotalAnalysisは強化されたデータ取得機能を提供し、画像とEDX信号の同時取得を可能にします。この機能により、小粒子の検出、重元素の解析、幅広い物質特性の観察が可能になります。HITACHI S-5000は、多様なアプリケーションのニーズに対応するために設計された組み込みソフトウェアとプログラミングパッケージも豊富に取り揃えています。接続オプションには、10/100 BaseT Ethernet接続、デジタル信号I/O、およびデータを直接転送するためのUSBポートが含まれます。HITACHI S 5000は、Secondary Electron （SE）イメージング、SI （Secondary Ion）イメージング、Backscatter Electron （BSE）イメージング、カソドルミネッセンス（CL）イメージングなど、幅広いイメージングニーズに対応しています。イメージング機能と分析パッケージの印象的な範囲に加えて、S-5000は、最も要求の厳しい環境の安全性と人間工学的要件を満たすように設計されています。ワークステージには傾斜シータ軸と自動化された5軸ユニットがあり、SEMを手動モードまたは自動化モードで使用できます。このマシンには、特大のカラーLCDモニターと、光電流を制御するためのソフトキーコントロールとスライダーバーを備えた直感的な手動制御ツールが装備されています。結論として、S 5000 Scanning Electron Microscopeは、最先端の強力な機器であり、最も困難なアプリケーション向けに高度なイメージングおよび分析機能を提供します。堅牢な設計と安全機能により、多様な作業環境で信頼性の高いパフォーマンスを提供し、精密イメージングと分析に最適です。