中古 HITACHI S-5000 #293632287 を販売中
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ID: 293632287
ヴィンテージ: 2000
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
Electron gun: Cold field emission type
Built-in butter type
Lens system: 3-Stage electromagnetic lens reduction method
Objective lens: Movable aperture
Stigma toll: 8-Pole electromagnetic system
Deflection coil: 2-Stage
Secondary electron resolution:
0.6 nm Acceleration voltage: 30 kV
30 nm Acceleration voltage: 1 kV
Magnification:
LM Mode: 30x - 500x
HM Mode: 250x - 800,000x
Sample fine movement device:
Side entry method
Movement stage:
X-axis: ± 3.5 mm
Y-axis: ± 2 mm
T-axis: ± 40°
Stage control: Movement speed switched in 3 steps
Sample size: 9mm x 5 mm x 2.4 mm, 9.5 mm x 5 mm x 4.4 mm
Sample exchange: Airlock method
Display:
Secondary electron image
Still image display with built-in image memory
Image memory:
Pixel high-definition memory two sides
Photographing of high-definition 1024 x 1024 image
Real-time TV display of slow scan image
Image integration on TV and first scan
Real-time histogram display
4-Split image display
Acceleration voltage: 0.5–30 kV (0.1 kV step)
2000 vintage.
HITACHI S-5000は、さまざまな材料や産業向けに設計された高度な走査型電子顕微鏡（SEM）です。超高解像度スキャン電子カラムを搭載し、解析解像度は0。8nmまでで、最高解像度のイメージングと元素分析が可能です。この高度なカラムは最大30kVの加速電圧と可変水冷電子源を備えており、信頼性の高い動作と品質分析結果を保証します。このシステムには、2位置のサンプルステージが装備されており、2つの事前に配置されたステージ間の標本の容易な転送と容易な標本交換を可能にします。このユニットにはデュアルチルト機能も装備されており、非指向アプリケーションの両方の方向に試験片を傾けることができます。Everhart-Thornley DetectorやBackspattered Electron Detectorなどの高度なイメージングと分析を可能にする幅広い検出器を装備することができます。これにより、画像やデータの形で重要な情報をキャプチャしたり、エネルギー分散分光法（EDS）などの組成解析を行うことができます。さらに、このツールには自動クロム/ゴールドコーティングユニットも含まれており、分析前に試料をコーティングすることで、分析に役立つ導電面を生成することができます。このアセットには、自動フォーカス機能と汚染機能も含まれており、簡単なアライメントと操作が可能です。最後に、このモデルには高度なコントローラが装備されており、直感的なユーザーインターフェイス、簡単なワークフロー管理、高度なデータ制御へのアクセスを提供します。また、業界標準のさまざまなフォーマットでデータを出力することも可能で、業界標準のソフトウェアパッケージとの互換性を実現しています。HITACHI S 5000は、さまざまな素材や産業向けに設計された業界をリードするSEMです。その超高解像度の機能と高度な機能により、詳細な画像やデータ、精度、再現性を求める人に最適です。
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