中古 HITACHI S-4800 #9351385 を販売中

HITACHI S-4800は、イメージング、元素分析、表面解析など、さまざまな用途に適した汎用性と強力な走査型電子顕微鏡（SEM）です。HITACHI S 4800は、ユニークな可変圧力モードを備えており、性能を犠牲にすることなく、様々な試験片の種類、サイズ、形状を観察することができます。大容量チャンバーと高倍率機能S-4800備え、複雑なサンプルの大容量・小容量の検査が可能で、高解像度の画像を提供します。S 4800は、顕微鏡の空間分解能を高める電界放射銃を備えています。さらに、この銃は、観察されるサンプルの金属汚染が少なく、結果としてサンプルのより高いコントラスト画像を得ることができます。SEMには標準カメラが装備されており、ユーザーはサンプルの画像を素早く簡単にキャプチャし、後で分析するために保存することができます。HITACHI S-4800の画像は、自動測定や計算にも使用でき、自動データ収集や解析に最適です。HITACHI S 4800は、元素マッピングと解析のために、エネルギー分散型X線分光（EDS）機能を備えています。EDSを使用すると、サンプルの素早く非破壊元素解析を実行できます。素早い元素解析により、S-4800はサンプル内のさまざまな要素を迅速かつ正確に識別および定量することができます。S 4800はまた、半導体材料の特性を理解するために不可欠なサンプルの接触電位差（CPD）を測定できる熱放射システム（TEM）モードを備えています。HITACHI S-4800は、3Dサンプルの表面検査にも独自の機能を提供します。低倍率モードにより、サンプルの表面欠陥をすばやく特定でき、高倍率では詳細なサーフェスマッピングが可能です。EBSD （Electron Backscatter Diffraction）システムを使用することで、結晶格子の向きをキャプチャすることでサンプルの表面方向をマッピングすることができます。EBSDは、サンプルのひずみ、結晶性、質感を測定することもできます。HITACHI S 4800は、さまざまな用途に適した多彩な機能を備えています。その大容量チャンバー、高解像度、EDS、 TEM、およびEBSD機能により、S-4800はイメージング、元素分析、および表面解析アプリケーション、ならびに自動データ収集および分析に適しています。S 4800はパワフルで直感的な走査型電子顕微鏡を提供し、あらゆるレベルのSEM能力のユーザーに高性能を提供します。