中古 HITACHI S-4800 #9271037 を販売中
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ID: 9271037
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
With EDS
Magnification: 30x, 800,000x
Maximum sample size: 150 mm
Accelerating voltage:
1.0 nm (15 kV)
2.0 nm (1 kV)
Electron gun:
Cold-cathode field emissions electron source
Accelerating voltage: 0.5-30 kV (Variable steps 0.1 kV)
Sample change: Air lock
Detectors:
Upper secondary electron detector
Lower secondary electron detector
EDS Detector
Dry vacuum system
With Turbo Molecular Pump (TMP)
3-Axes motorized stage
With GUI
Operating system: Windows XP.
日立電子走査顕微鏡(HITACHI S-4800 Scanning Electron Microscope、 SEM)は、生体試料やナノ構造物などの画像解析に使用される高解像度分析装置です。このツールは、3nmの高分解能を提供し、オペレータが小さな細胞、タンパク質などの構造を明確に視覚化することができます。HITACHI S 4800 SEMは、エネルギー分散型X線分光(EDS)検出器と高感度背面検出装置を備えており、サンプル層の奥深くに浸透し、非常に小さな構造でも鮮明な画像・解析が可能です。このシステムにはフィールド・エミッション・ガンが装備されている。この銃は、より高い電流強度でより大きな電子放出を提供し、より高い画質、より良い解像度とコントラスト、およびより速いイメージング速度を生成することができます。ガンユニットによって生成される高強度の電子ビームは、0。5から20。0 μ mまでのスポットサイズに調整可能です。SEM S-4800、生物学的および産業的なサンプルのような標準的な部屋のそれらより大きいサンプルを収容できる大きい部屋を特色にします。検出器の選択によって、この機械は磁気および非磁気材料を検査するのに使用することができます。この機器は直感的なインタラクティブなユーザーインターフェイスによって制御され、機器の操作が容易になります。このユーザーフレンドリーなインターフェイスにより、1つのサンプルで複数の方向から効率的に画像を取得できます。このツールには、厚さや表面粗さを測定するなど、細かい点をすばやく見つけるための自動機能も付属しています。3次元イメージングの場合、S 4800は高速スキャンを可能にするConoidal Scanning Modeを備えており、不要なバックグラウンドノイズを除去することもできます。このソフトウェアには、パノラマ画像をすばやく作成するための自動アライメント機能とステッチ機能も含まれています。HITACHI S-4800にはAuto Focus機能とAutocontrast機能が搭載されており、ユーザーフレンドリーで効率的です。付属のHDTV (High Definition Television)ビデオポートにより、高解像度で画像を表示できます。HITACHI S 4800には、高速イーサネットへのインターフェースとオプションのビデオ出力サポートも含まれており、実践者は他のコンピュータにデータを転送することができ、膨大な時間を節約できます。全体として、S-4800 SEMは非常に高度な走査型電子顕微鏡であり、生物学的、産業、ナノ構造サンプルの細部まで研究するための強力な機能を備えています。その高解像度およびEDS検出器は、画質と分析の明瞭さを提供し、汎用性の高いチャンバー、ユーザーインターフェイス、EDX制御により、サンプルの操作と分析が容易に、迅速かつ正確になります。
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