中古 HITACHI S-4800 #9254505 を販売中
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ID: 9254505
ヴィンテージ: 2008
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
Secondary electron image resolution:
1.0 nm at 15 kV, WD: 4 mm
1.4 nm at 1 kV, WD: 1.5 mm
Declaration mode 2.0 nm at 1 kV, WD: 1.5 mm, Normal mode
Magnification:
LM Mode: 20x - 2,000x
HM Mode: 100x - 800,000x
Stigmator: Octopole electromagnetic
Scanning coil: 2-Stages electromagnetic electron optics
Electron gun: Cold cathode field emission source
Lens type: 3-Stages electromagnetic lens reduction system
Objective aperture: Variable type 4 position externally selectable
Sample chamber:
Size: Type I stage
Max sample size: Diameter, 4"
Stage motion:
3-Axis motorized
X/Y: 0-50 mm
Rotation: 360°
Display system:
Image display:
Full screen: 1,280 x 960 Pixels
Reduced area: 640 x 480 Pixels
Reduced area: 320 x 240 Pixels
(2) Dual images: 640 x 480 Pixels
Scanning speed:
TV (25/30 x 2 frame/s)
Fast (6.25/7.5 x 2 frame/s)
Slow (1/4/20/40/80 s/frame / .5/2/10/20/40 s/frame)
Signal selection:
SE Signal
X-Ray signal
AUX Signal
Vacuum system: Full automatic operation with pneumatic valve control
Ultimate vacuum:
10^-7 Pa in electron gun chamber
10^-4 Pa in specimen chamber
(3) Ion pumps
Turbo pump
Oil rotary pump
Includes:
UPS
ULVAC GLD-136 Vacuum pump
EYELA Cool Ace CA-1111 Chiller
Operation manuals included
2008 vintage.
HITACHI S-4800 Scanning Electron Microscope （SEM）は、二次電子と後方散乱電子という2つのイメージングモダリティを組み合わせ、試料表面の高解像度画像を生成する強力な装置です。HITACHI S 4800は、広い作業距離や先進のオフアクシス電子光学など、幅広い機能と最先端技術を備えています。S-4800は、1 nm未満から500 nm以上の高解像度と倍率を提供し、幅広い用途に適しています。このシステムには最新のオフアクシスレンズが装備されており、作業距離が大きく、最大10kV個の電子を送信する可能性があります。また、自動フォーカス機能を備えており、高コントラストでパターン化された画像を投影することができます。ユニットの拡張可能なチャンバーの容積と柔軟なステージは、最大200mmまでのより大規模で厚いサンプルの研究を可能にします。試料ステージをチャンバー内に最大810mm開けることができ、より大型で厚い試料を容易に観察することができます。S 4800は、電子とイオンの両方からのX線信号の同時生成を可能にするユニークなX線ソースを備えた強力なフィールド放射源（FE-SEM）を持っています。この機能は、サンプル表面の定性的かつ定量的な特性評価に有益です。HITACHI S-4800は、低騒音で高解像度のイメージングを可能にする、最高の性能を目指して設計されています。機械の電子工学は高い安定性のために設計され、信頼できる性能および信頼できる結果を提供します。HITACHI S 4800ツールには、高速イメージングの高度なアセットも搭載されており、高いフレームレートの画像をキャプチャすることができます。また、表面マッピング、デジタルイメージモンタージュ、3Dイメージング、穀物認識、物体識別、パーティクルカウント、表面面積測定、厚さ測定など、標本分析用の幅広いイメージングツールを備えています。最後に、S-4800のユーザーフレンドリーな機器は、ナビゲートと制御が簡単になります。直感的なタッチスクリーンインターフェイスと包括的なユーザーマニュアルにより、S 4800は理想的なSEMソリューションとなります。
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