中古 HITACHI S-4800 #9209753 を販売中

製造業者
HITACHI
モデル
S-4800
ID: 9209753
ヴィンテージ: 2008
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) With HORIBA EDX system Workstation: HP DC7100MT Declaration mode: 2.0 nm at 1 kV, WD: 1.5 mm, Normal mode Stigmator: Octopole electromagnetic EYELA Cool Ace CA-1111 Chiller UPS HITACHI Air compressor Operating system: Windows XP Resolution: Accelerating voltage: 15 kV Working distance: 4 mm to 1.0 nm (220,000x) Accelerating voltage: 1 kV Working distance: 1.5 mm to 2.0 nm (120,000x) Magnification: High magnification mode: 100x to 800,000x Low magnification mode: 20x to 2,000x Electron optics: Electron gun: Cold cathode field emission type Extracting voltage (Vext): 0 to 6.5 kV Accelerating voltage (Vacc): 0.5 to 30 kV (in 100 V steps) Lens: 3-Stage electromagnetic lens, reduction type Objective lens aperture: Movable aperture (4 Openings selectable / Alignable outside column) Self-cleaning thin aperture Astigmatism correction coil: Electromagnetic type (Stigmator) Scanning coil: 2-Stage electromagnetic electron optics Specimen stage: X-Traverse: 0 to 50 mm (Continuous) Y-Traverse: 0 to 50 mm (Continuous) Z-Traverse: 1.5 to 30.0 mm (Continuous) Tilt: -5° to +70° Rotation: 360° (Continuous) Specimen size: Max 100 mm (Diameter) (Airlock type specimen exchange) Display unit: Display type: Flicker-free image on PC monitor (Full scanning speeds) Viewing monitor: Type 18.1 LCD Option: Type 21 Color CRT (1280 x 1024 pixels) Photo CRT (Option): Ultra-high resolution type (Effective field of view 120 x 90 mm) Full screen: 1280 x 960 Pixels Reduced area: 640 x 480 Pixels 320 x 240 Pixels Dual Image: 640 x 480 Pixels Scanning modes: Normal scan Reduced area scan Line scan Spot analysis Average concentration analysis Split / Dual magnification Scanning speeds: TV (640 x 480 pixel display: 25 / 30 frames/s) Fast (Full screen display: 6.25 / 7.5 frames/s) Slow: (Full screen display: 1 / 0.9 , 4 / 3.3 , 20 / 16, 40 / 32 ,80 / 64 Frames/s) (640 x 480 pixels display: 0.5 / 0.4 , 2 / 1.7 , 10 / 8 , 20 / 16, 40 / 32 Frames/s) Photograph: 2560 x 1920 Pixels Display: 40 / 32, 80 / 64, 160 / 128, 320 / 256 Frames/s Value: 50 Hz / 60 Hz TV: NTSC or PAL Signal Signal processing modes: Automatic brightness control Gamma control Automatic focus Automatic stigmator Automatic data display: Image number Accelerating voltage Magnification Micron bar Micron value Data / Time Data entry: Alphanumeric characters, number, and marks Electrical image shift: 12 m (WD: 8 mm) Evacuation system: System type: Fully automatic pneumatic-valve system Ultimate vacuum levels: Specimen chamber: 7 x Pa 10-7 Pa in electron gun chamber 10-4 Pa in specimen chamber Electron gun chamber: IP1 1 x Pa or better IP2 2 x Pa or better IP3 7 x Pa or better Vacuum pumps: ULVAC GLD-136 Electron optical system: (3) Ion pumps Specimen chamber: Turbo molecular pump Oil rotary pump Protection devices: Warning devices: Power failure Cooling-water interruption Inadequate vacuum Secondary electron image resolution: 1.0 nm at 15 kV, WD: 4 mm 1.4 nm at 1 kV, WD: 1.5 mm Sample chamber: Size: Type I stage Max sample size: 100 mm Diameter Stage motion: 3 Axis motorized X/Y: 0 - 50 mm Signal selection: SE Signal X-Ray signal AUX Signal UPS Unit Chiller FE-SEM Rotary pump Main body: Stage controller (ROM PCB) EVAC Controller (ROM PCB) (3) Ion pumps SE Detector Multi-aperture Gun head cap STP301H TMP Pump STP301H TMP Controller Solenoid valve assy PC Hard Disk Drive (HDD) Operating system: Windows XP HV Controller Gun head unit Case Operation unit: LCD Monitor Keyboard Mouse Operation panel Stage control trackball ETC: Ion coater rotary pump LN2 UPS EDS Control HUB EDS Controller Operating system: Windows XP Baking tool Ion coater HP Office Jet Pro C8194A Printer Manuals included 4 kVA For voltage other than 100V AC Power requirements: 100V AC (±10% ), Single phase, 50/60 Hz 2008 vintage.
HITACHI S-4800は、優れた画質と汎用性の高い解析機能を兼ね備えた走査型電子顕微鏡(SEM)です。このハイエンド機器は、材料やライフサイエンスの調査、試験片の分析、故障解析、断面測定、表面測定など、さまざまな研究および産業用途向けに設計されています。日立S 4800は、タングステンフィラメント電子エミッタ、可変圧力(VP)、可変圧力可変温度(VPVT)機能を搭載しています。VPモードとVPVTモードにより、異なる圧力レベルと温度で試験片を見ることができ、より深く正確な特性評価が可能になります。また、この顕微鏡は直径140mmの広い検出領域を特徴とし、2次電子画像(SEI)モードでは最大1nmの解像度の高解像度を備えています。さらに、先進の低真空モード(ALV)は、非導電材料でSEM画像を検出する機能を提供します。S-4800の柔軟な設計により、背景散乱電子(BSE)イメージング、EDX元素解析、定性的および定量的元素分析のWDSなど、さまざまな技術に使用できます。さらに、ステレオおよび3Dイメージング機能は、試験片の包括的な特性評価を提供します。高度なイメージングには、ライブおよびモノクロディスプレイ、ならびに内部構造および表面特性の正確な測定および指定を可能にするデジタル画像測定ツールが含まれます。さらに、大型サンプルチャンバーと高リフトステージにより、効率的なサンプル処理と操作が可能です。S 4800には、高度な検出器や電子カラムのアップグレード、画像の自動取得を可能にする自動イメージングシステムなど、幅広いアクセサリがあります。さらに、高度なエネルギーフィルタリングは、エネルギー分散型X線信号の研究に役立ちます。HITACHI S-4800は、総合的に、様々な研究や産業用途の要求に応えるために設計された強力でハイエンドなSEMです。汎用性の高い設計により、優れた画質と高度な解析機能を提供し、ユーザーは分析対象の試験片を正確かつ正確に把握することができます。
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