中古 HITACHI S-4800 #9209753 を販売中
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ID: 9209753
ヴィンテージ: 2008
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
With HORIBA EDX system
Workstation: HP DC7100MT
Declaration mode: 2.0 nm at 1 kV, WD: 1.5 mm, Normal mode
Stigmator: Octopole electromagnetic
EYELA Cool Ace CA-1111 Chiller
UPS
HITACHI Air compressor
Operating system: Windows XP
Resolution:
Accelerating voltage: 15 kV
Working distance: 4 mm to 1.0 nm (220,000x)
Accelerating voltage: 1 kV
Working distance: 1.5 mm to 2.0 nm (120,000x)
Magnification:
High magnification mode: 100x to 800,000x
Low magnification mode: 20x to 2,000x
Electron optics:
Electron gun: Cold cathode field emission type
Extracting voltage (Vext): 0 to 6.5 kV
Accelerating voltage (Vacc): 0.5 to 30 kV (in 100 V steps)
Lens: 3-Stage electromagnetic lens, reduction type
Objective lens aperture:
Movable aperture (4 Openings selectable / Alignable outside column)
Self-cleaning thin aperture
Astigmatism correction coil: Electromagnetic type (Stigmator)
Scanning coil: 2-Stage electromagnetic electron optics
Specimen stage:
X-Traverse: 0 to 50 mm (Continuous)
Y-Traverse: 0 to 50 mm (Continuous)
Z-Traverse: 1.5 to 30.0 mm (Continuous)
Tilt: -5° to +70°
Rotation: 360° (Continuous)
Specimen size: Max 100 mm (Diameter)
(Airlock type specimen exchange)
Display unit:
Display type: Flicker-free image on PC monitor (Full scanning speeds)
Viewing monitor: Type 18.1 LCD
Option: Type 21 Color CRT (1280 x 1024 pixels)
Photo CRT (Option): Ultra-high resolution type
(Effective field of view 120 x 90 mm)
Full screen: 1280 x 960 Pixels
Reduced area:
640 x 480 Pixels
320 x 240 Pixels
Dual Image: 640 x 480 Pixels
Scanning modes:
Normal scan
Reduced area scan
Line scan
Spot analysis
Average concentration analysis
Split / Dual magnification
Scanning speeds:
TV (640 x 480 pixel display: 25 / 30 frames/s)
Fast (Full screen display: 6.25 / 7.5 frames/s)
Slow:
(Full screen display: 1 / 0.9 , 4 / 3.3 , 20 / 16, 40 / 32 ,80 / 64 Frames/s)
(640 x 480 pixels display: 0.5 / 0.4 , 2 / 1.7 , 10 / 8 , 20 / 16, 40 / 32 Frames/s)
Photograph: 2560 x 1920 Pixels
Display: 40 / 32, 80 / 64, 160 / 128, 320 / 256 Frames/s
Value: 50 Hz / 60 Hz
TV: NTSC or PAL Signal
Signal processing modes:
Automatic brightness control
Gamma control
Automatic focus
Automatic stigmator
Automatic data display:
Image number
Accelerating voltage
Magnification
Micron bar
Micron value
Data / Time
Data entry: Alphanumeric characters, number, and marks
Electrical image shift: 12 m (WD: 8 mm)
Evacuation system:
System type: Fully automatic pneumatic-valve system
Ultimate vacuum levels: Specimen chamber: 7 x Pa
10-7 Pa in electron gun chamber
10-4 Pa in specimen chamber
Electron gun chamber:
IP1 1 x Pa or better
IP2 2 x Pa or better
IP3 7 x Pa or better
Vacuum pumps: ULVAC GLD-136
Electron optical system: (3) Ion pumps
Specimen chamber: Turbo molecular pump
Oil rotary pump
Protection devices:
Warning devices:
Power failure
Cooling-water interruption
Inadequate vacuum
Secondary electron image resolution:
1.0 nm at 15 kV, WD: 4 mm
1.4 nm at 1 kV, WD: 1.5 mm
Sample chamber:
Size: Type I stage
Max sample size: 100 mm Diameter
Stage motion:
3 Axis motorized
X/Y: 0 - 50 mm
Signal selection:
SE Signal
X-Ray signal
AUX Signal
UPS Unit
Chiller
FE-SEM Rotary pump
Main body:
Stage controller (ROM PCB)
EVAC Controller (ROM PCB)
(3) Ion pumps
SE Detector
Multi-aperture
Gun head cap
STP301H TMP Pump
STP301H TMP Controller
Solenoid valve assy
PC
Hard Disk Drive (HDD)
Operating system: Windows XP
HV Controller
Gun head unit
Case
Operation unit:
LCD Monitor
Keyboard
Mouse
Operation panel
Stage control trackball
ETC:
Ion coater rotary pump
LN2
UPS
EDS
Control HUB
EDS Controller
Operating system: Windows XP
Baking tool
Ion coater
HP Office Jet Pro C8194A Printer
Manuals included
4 kVA For voltage other than 100V AC
Power requirements: 100V AC (±10% ), Single phase, 50/60 Hz
2008 vintage.
HITACHI S-4800は、優れた画質と汎用性の高い解析機能を兼ね備えた走査型電子顕微鏡(SEM)です。このハイエンド機器は、材料やライフサイエンスの調査、試験片の分析、故障解析、断面測定、表面測定など、さまざまな研究および産業用途向けに設計されています。日立S 4800は、タングステンフィラメント電子エミッタ、可変圧力(VP)、可変圧力可変温度(VPVT)機能を搭載しています。VPモードとVPVTモードにより、異なる圧力レベルと温度で試験片を見ることができ、より深く正確な特性評価が可能になります。また、この顕微鏡は直径140mmの広い検出領域を特徴とし、2次電子画像(SEI)モードでは最大1nmの解像度の高解像度を備えています。さらに、先進の低真空モード(ALV)は、非導電材料でSEM画像を検出する機能を提供します。S-4800の柔軟な設計により、背景散乱電子(BSE)イメージング、EDX元素解析、定性的および定量的元素分析のWDSなど、さまざまな技術に使用できます。さらに、ステレオおよび3Dイメージング機能は、試験片の包括的な特性評価を提供します。高度なイメージングには、ライブおよびモノクロディスプレイ、ならびに内部構造および表面特性の正確な測定および指定を可能にするデジタル画像測定ツールが含まれます。さらに、大型サンプルチャンバーと高リフトステージにより、効率的なサンプル処理と操作が可能です。S 4800には、高度な検出器や電子カラムのアップグレード、画像の自動取得を可能にする自動イメージングシステムなど、幅広いアクセサリがあります。さらに、高度なエネルギーフィルタリングは、エネルギー分散型X線信号の研究に役立ちます。HITACHI S-4800は、総合的に、様々な研究や産業用途の要求に応えるために設計された強力でハイエンドなSEMです。汎用性の高い設計により、優れた画質と高度な解析機能を提供し、ユーザーは分析対象の試験片を正確かつ正確に把握することができます。
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