中古 HITACHI S-4800 Type II #9381462 を販売中

HITACHI S-4800 Type IIは、日立ハイテクノロジーズ株式会社が開発・販売している電界放射走査型電子顕微鏡です。このタイプの走査型電子顕微鏡（SEM）は、固体材料の上面の明確で高解像度の画像を生成することができます。また、サンプルから生成された二次電子を電子ビームで爆撃して捕捉します。これは電子後方散乱回折（EBSD）として知られており、材料の結晶構造を特徴付けるための重要な技術です。HITACHI S 4800 TYPE IIは、スポットサイズが小さい発光源を搭載し、高いnA/V電流密度と低加速電圧を実現しています。通常および低電圧動作の組み合わせにより、より低い倍率で高解像度のイメージングとEBSDを提供します。1。0 nm〜40 nmの汎用性の高い動作範囲により、印象的なレベルのディテールで画像を作成できます。S-4800 Type IIは、低コントラスト画像処理、自動膜厚補正、自動電子ビーム校正、結晶構造解析装置など、ユニークな機能を備えています。特に低コントラスト画像処理は、低コントラスト材料の鮮明な画像を得るために有用であり、自動膜厚補正は試験片の厚さを正確に計算します。自動電子ビーム校正は性能を向上させるのに役立ち、結晶構造解析システムはSEM画像から結晶構造パラメータを簡単に決定することができます。また、S 4800 TYPE IIには高感度HDRカメラを搭載し、弱い蛍光サンプルの調査方法を改善しました。これにより、低倍率でも信号が弱い標本の高精細画像を作成することができます。さらに、低kVのビーム電流により、ユニットは弱い信号を検出することができ、画像で拾うことができるノイズのアーティファクトの数を減らすことができます。全体として、HITACHI S-4800 Type IIは、鮮明な光学機器を搭載したパワフルで汎用性の高い走査型電子顕微鏡で、様々な材料からの詳細な画像やEBSDデータを作成することができます。高いnA/V電流密度、低い加速電圧、および低いkVビーム電流の組み合わせにより、優れた画像をキャプチャできます。そのため、材料科学者やエンジニアが固体材料の構造や組成をよりよく研究するための素晴らしいツールです。