中古 HITACHI S-4800 Type II #9311798 を販売中

HITACHI S-4800 Type II
ID: 9311798
ヴィンテージ: 2004
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) FE Tip (4) Barium Ion pumps BOC EDWARDS STP 301H Pump Stage: Type 2 5 Axis motor, 6" SE Detector: Upper detector (2) Lower detectors Ion pump power: HITACHI Electron Option: CD Measurement function Display unit: LED Monitor, 19" AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT D530 CMT Control PC Stage move: Joy stick control Control panel AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT 101 Keyboard Microsoft mouse Operating system: Window XP Utility: EDWARD ESDP13 Pump Pumping hose type Chiller Down trans: 4F500-548 Auto transformer Capacity: 7 kVa Resolution: Accelerating voltage: 15 kV Working distance: 4 mm to 1.0 nm Accelerating voltage: 1 kV Working distance: 1.5 mm to 2.0 nm Magnification: High magnification mode: 100x to 800,000x Low magnification mode: 30x to 2,000x Electron optics: Electron gun: Cold cathode field emission type Extracting voltage (Vext): 0 to 6.5 kV Accelerating voltage (Vacc): 0.5 to 30kV (100 V Steps) Lens: 3-Stage electromagnetic lens, reduction type Objective lens aperture: Movable aperture (4 openings selectable / Alignable outside column) Self-cleaning thin aperture Astigmatism correction coil: Electromagnetic type (stigmator) Scanning coil: 2-Stages electromagnetic-deflection type Specimen stage: X Traverse: 0 to 110 mm (continuous) Y Traverse: 0 to 110 mm (continuous) Z Traverse: 1.5 to 40.0 mm (continuous) Tilt: -5° to +70° Rotation: 360° Specimen size: Maximum 100 mm diameter Display unit: Display type: Flicker-free image on PC monitor (Full scanning speeds) Viewing monitor: Type 18.1 LCD Option: Type 21 color CRT (1280x1024 Pixels) Photo CRT (Option): Ultra-high resolution type (Effective field of view 120x90 mm) Scanning modes: Normal scan Reduced area scan Line scan Spot analysis Average concentration analysis Split / Dual magnification Scanning speeds: Fast: Full screen display: 6.25/7.5 Frames/s TV: 640 x 480 pixel display: 25/30 Frames/s NTSC or PAL Signal Slow: Full screen display: 1/0.9 , 4/3.3 , 20/16, 40/32 ,80/64 Frames/s 640x480 Pixels display: 0.5/0.4 , 2/1.7 , 10/8 , 20/16, 40/32 Frames/s Photograph: 2560 x 1920 Pixels display: 40/32, 80/64, 160/128, 320/256 Flame/s Value: 50/60 Hz Signal processing modes: Automatic brightness control Gamma control Automatic focus Automatic stigmator Automatic data display: Image number Accelerating voltage Magnification Micron bar Micron value Data/time and working Distance can be printed in film Data entry: Alphanumeric characters, number, and marks Electrical image shift: 12 m (WD=8 mm) Evacuation system: Fully automatic pneumatic-valve system Ultimate vacuum levels: Specimen chamber: 7x Pa Electron gun chamber: IP1 1 x Pa or Better IP2 2 x Pa or Better IP3 7 x Pa or Better Vacuum pumps: Electron optical system: (3) Ion pumps Specimen chamber: Turbo molecular pump Oil rotary pump (4) Compressors: Oil-less type Warning devices: Power failure Cooling-water interruption Inadequate vacuum Power requirements: 100V AC (±10%), Single phase, 50/60Hz 4 kVA For voltage other than 100V AC 2004 vintage.
HITACHI S-4800 Type IIは、高分解能イメージングと解析機能を備えた走査型電子顕微鏡(SEM)です。次世代のSEMであり、知識獲得と処理の両方を向上させるための幅広い機能を備えています。HITACHI S 4800 TYPE IIは、大型デジタルディスプレイ、強化されたイメージング機能、幅広いサンプル操作ツールを備えており、材料の構造と組成を研究するための強力なツールです。S-4800 タイプIIの中心には、STEM (Scanning Transmission Electron Microscope)があります。この技術は、微細構造解析と要素解析の全範囲を可能にします。S 4800 TYPE IIで使用される高度なイメージング技術は、1ナノメートルの解像度でスキャンできる高解像度の地形図を提供します。この精度により、試料の原子スケール画像を取得することができ、その特性や構造を詳細に把握することができます。HITACHI S-4800 Type IIには、さまざまなサンプル操作ツールが搭載されています。これには、微妙に調整可能な動きとスキャン機能を備えたサンプルホルダーシステムと、ビューを変更するために回転できるサンプルステージが組み込まれています。STEMと組み合わせて使用すると、これらのツールは研究者にサンプルを操作するためのさまざまなツールを提供し、望ましい結果を得ることができます。HITACHI S 4800 TYPE IIは、高解像度イメージング機能に加えて、さまざまな直感的なソフトウェア機能も備えています。これには、ユーザーフレンドリーなグラフィカルユーザーインターフェイス(GUI)と、さまざまな手順を自動化するために使用できるオートメーション機能が含まれます。これにより、迅速かつ正確に実験を設定し、進捗状況を追跡して結果を分析することが容易になります。S-4800 タイプIIは、真空システムを使用して、きれいなサンプルを確実に分析します。これは、最適なイメージング結果を得るために、サンプルが最適な状態に保たれるようにするのに役立ちます。全体的に、S 4800 TYPE IIは電子顕微鏡の強力なツールです。その高度なイメージングと分析機能により、材料の研究と分析のための信頼できるツールです。
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