中古 HITACHI S-4800 Type II #9223407 を販売中
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販売された
ID: 9223407
ヴィンテージ: 2005
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
Resolution:
Accelerating voltage: 15 kV
Working distance: 4 mm to 1.0 nm
Accelerating voltage: 1 kV
Working distance: 1.5 mm to 2.0 nm
Magnification:
High magnification mode: 100x to 800000x
Low magnification mode: 30x to 2000x
Electron optics:
Electron gun: Cold cathode field emission type
Extracting voltage: 0 to 6.5 kV
Accelerating voltage: 0.5 to 30 kV (100 V Steps)
Lens: 3-Stage electromagnetic lens, reduction type
Objective lens aperture:
Movable aperture: 4 Openings selectable / Alignable outside column
Self-cleaning thin aperture
Electromagnetic astigmatism correction coil
Scanning coil: 2-Stages electromagnetic deflection type
Specimen stage:
X-Traverse: 0 to 110 mm
Y-Traverse: 0 to 110 mm
Z-Traverse: 1.5 to 40.0 mm
Tilt: -5° to 70°
Rotation: 360°
Specimen size: 6" (Airlock type)
Display unit:
Display type: Flicker free image on PC monitor
Viewing monitor: LCD, 18.1"
Type 21 color CRT (1280 x 1024 Pixels)
Photo CRT: Ultra-high resolution type
Effective field of view: 120 x 90 mm
Scanning modes:
Normal scan
Reduced area scan
Line scan
Spot analysis
Average concentration analysis
Split / Dual magnification
Scanning speeds:
TV:
640 x 480 Pixels display: 25 / 30 flames/s
NTSC / PAL Signal
Fast: Full screen display: 25 / 30 flames/s
Slow:
Full screen display: 1/0.9, 4/3.3, 20/16, 40/32, 80/64 s/flame
640 480 Pixels display: 0.5/0.4, 2/1.7, 10/8, 20/16, 40/32 s/flame
Photograph:
2560 x 1920 Pixels display: 40/32, 80/64, 160/128, 320/256 s/flame
Value of (50 Hz) / (60 Hz)
Signal processing modes:
Automatic brightness control
Gamma control
Automatic focus
Automatic stigmator
Automatic data display:
Image number
Accelerating voltage
Magnification
Micron bar
Micron value
Date/time
Working distance
Electrical image shift: ±12 um
Evacuation system:
Type: Fully automatic pneumatic-valve system
Vacuum levels:
Specimen chamber: 7 x 10-4 Pa
Electron gun chamber:
IP-1:1 x 10-7 Pa
IP-2: 2 x 10-6 Pa
IP-3: 7 x 10-5 Pa
Vacuum pumps:
Electron optical system: (3) Ion pumps
Specimen chamber: Turbo molecular pump
Oil rotary pump
Compressor: Oil-less type
Warning devices:
Power failure
Cooling-water interruption
Inadequate vacuum
2005 vintage.
HITACHI S-4800 Type IIは、様々なサンプルの高解像度画像を得るために設計された高度な走査型電子顕微鏡（SEM）です。故障解析、表面微細構造の検討、サンプルイメージングや解析など幅広い用途に使用できる汎用性の高い機器です。HITACHI S 4800 TYPE IIは、二次電子検出技術を活用し、高コントラストでディテールの高いサンプルの高解像度画像を生成します。FEG（電界放射銃）カラムを搭載し、非常に高い輝度と非常に低いエミッタンスを持つ電子ビームを提供し、画像解像度と優れた焦点深度を向上させます。S-4800 タイプIIでは、逆散乱電子（BSE）イメージング、X線結晶解析、電圧コントラストイメージング、ビーム減速イメージングなど、さまざまな検出モードを提供しています。FEGカラムの電位分解能は0。5nmで、電子ビームの最大加速電圧は30kVです。SEMには、最大30個の試料ホルダーに対応できるハイスループット自動ステージも搭載されています。これにより、試料を表示領域全体に素早く移動させ、効率的なSEM操作を行うことができます。さらに、S 4800 TYPE IIは高度な分析パッケージを提供しており、ユーザーはリアルタイムの元素分析と定量イメージングを行うことができます。このシステムには、最大5つの元素を同時に測定およびマッピングすることができる冷陰極イオン質量分析計（CCIMS）が含まれています。また、デジタルイメージ処理システムを搭載しており、サイズや形状の測定、面積分析、Zマップ画像の再構築など、さまざまな画像変換が可能です。HITACHI S-4800 Type IIは、高品質な画像を必要とする研究者や技術者のニーズに応えるために設計された強力な走査型電子顕微鏡です。FEGカラムの改良、各種イメージングモード、サンプルのリアルタイム解析用の高度な分析パッケージを備えています。日立S 4800 TYPE IIは、さまざまな素材の微細構造を探索するための理想的なツールです。
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