中古 HITACHI S-4700 #9401458 を販売中

HITACHI S-4700は、高度な研究および産業用途の要件を満たすためにさまざまな機能を提供する高度な走査電子顕微鏡（SEM）です。本装置には、高分解能電界放射銃（FEG）電子源と大型作動距離対物レンズを搭載し、イメージングの向上を図っています。FEGシステムは、サブナノメートルレベルから8nmを超えるさまざまな解像度で、より明るくシャープな画像を生成することができます。HITACHI S 4700のイメージング機能は、小粒子や生体試料の研究に最適です。サンプル表面への高圧電子ビームの影響によって生成される二次電子は、サブナノメートル分解能で地形情報を明らかにすることができます。このユニットは、表面積、粒度、元素組成の測定などの表面解析アプリケーションにも使用できます。エネルギー分散分光計と組み合わせれば、機械はまた高分解能の元素分析を行うことができます。S-4700はまた、高速イメージングと高スループット動作を提供するように設計されています。高速CCDカメラを内蔵することで、従来のどのSEMよりも高速に画像を取得することができます。その大きなチャンバとステージにより、大量のサンプルを使用した高スループット動作が可能です。S 4700は、サンプル操作と観察の柔軟性を提供します。新たに開発した磁気ステージを追加することで、360度のサンプル回転スキャンが可能になり、より少ない写真でより広い範囲の画像を得ることができます。さらに、大きなチャンバーは、針やマイクロプロブマニピュレータで傾斜やステージなどの複数の試料操作技術に対応しています。HITACHI S-4700は、上級者向けに、ユーザーフレンドリーなソフトウェアとハードウェアオプションを幅広く提供しています。HITACHI Automated Control Asset （HACS： HITACHI Automated Control Asset）は、簡単に操作できるようになっており、イメージングのパラメータ設定やデータ分析が容易に行えます。また、HITACHI Automated Image Analysis Model （HAIAS）などの新しいソフトウェアオプションは、ユーザーがSEMから取得した画像を処理および分析するための強力なツールを提供します。結論として、HITACHI S 4700は、優れたイメージング機能、高スループット操作、柔軟なサンプル操作を提供する先進的なSEMです。これらの機能を組み合わせることで、機器は高度な研究および産業用途、ならびに要素分析のための理想的なプラットフォームとなります。