中古 HITACHI S-4700 #9269385 を販売中

HITACHI S-4700は、究極の柔軟性で優れたイメージング性能を提供するために設計された高性能スキャン電子顕微鏡（SEM）です。革新的な電界放出電子銃（FEG）を使用しており、EDSやEBSD解析などの幅広いイメージング技術に適しています。高解像度のHITACHI S 4700は、微小な標本や表面形態特性の詳細な解析を可能にします。S-4700は完全に自動化された画像ステッチシステムを備えており、画像解像度を犠牲にすることなく、より大きな視野を可能にします。オーバーレイステージ機能を採用し、正確かつ正確なバーチャルステッチを実現します。また、S 4700は高速スキャン/ズーム機能を備えており、広い視野から数秒で高解像度の画像を撮影することができます。HITACHI S-4700は、イオンビーム研磨、イオン加速器加工、フィールドの深さの広がり、クライオ加工など、さまざまなサンプル調製ツールやアクセサリーに対応しています。HITACHI S 4700にはオプションのサンプルホルダーも用意されており、幅広いサンプル形状やサイズに対応できます。さらに、S-4700は電子ビームを完全に制御することができ、色、コントラスト、明るさ、カラーバランスなどのパラメータを微調整することができます。ビームブランカー内蔵により、過剰な電子を遮断することで照射によるサンプル損傷を低減します。内蔵の画像強化アルゴリズムは、元の情報を損なうことなく画像の忠実性を向上させます。S 4700の機械設計は最終的な安定性および信頼性のためになされます。負荷ロックシステムを使用してガス汚染を低減または排除します。高張力電源にフルレンジの調節可能な操作があり、各サンプルに最適な性能を提供します。HITACHI S-4700は「、タッチロックアンドロール」倍率、電流範囲制御、明るさ/コントラスト校正、画像算術機能など、すべてのSEMパラメータをソフトウェアコントロールするユーザーフレンドリーなインターフェースを備えています。HITACHI S 4700では、オートカウント機能やラインスキャン機能、スルーフォーカスイメージング、広範な被写界深度スキャンなど、さまざまなイメージング/解析オプションも提供しています。全体として、S-4700は豊富な多目的イメージング機能と高度なソフトウェア制御を提供しています。この洗練されたSEMにより、優れたイメージングのディテールと卓越したレベルのサンプル調製が可能になり、研究および業界アプリケーションに理想的なソリューションとなります。