中古 HITACHI S-4700 #9192126 を販売中

HITACHI S-4700 scanning electron microscope （SEM）は、ナノ構造の観察、材料の特性評価、顕微鏡レベルでの物体の特性測定に使用される先進的なイメージングおよび分析装置です。HITACHI S 4700は、ダイレクトドライブベクタースキャンを備え、真のXYマップと測定を可能にします。また、最小圧力1 x 10-3 torrの自動低真空（LV）装置を提供しています。この装置には、サンプルおよび元素マップの局所解析を提供するコールド陰極イオン源が含まれています。S-4700は、5。7インチの大型ビデオスクリーンを備えた超高解像度FPM-5000 12ビット解像度のカメラを誇っています。これにより、3D、バックスキャッタイメージング、色分けされたマップなど、さまざまなイメージング技術が可能になります。S 4700のビームエネルギーは0。1から30kVの間で調節可能であり、コイルとコンデンサーのレンズシステムを使用して制御することができ、最適なエネルギーの電子だけがサンプルに落ちることを保証します。また、低ドリフト制御とオートコントラスト強化機能を備え、画像の精度と解像度を向上させます。HITACHI S-4700には、高解像度の二次電子画像用のCDD-1100検出器と、精密な低エネルギーイメージング用のSDD-1K00低電圧検出器が含まれています。高強度のX線サンプルステージを搭載し、微細な分析を可能にします。HITACHI S 4700は、スポットモード、連続スキャンモード、アルファモード、ステップドスキャンモードなど、さまざまなモードで動作できます。また、スポット測定用の自動小型試料ステージと基板実装用のサンプルインスラクターを備えており、サンプルを素早く簡単に取り付けることができます。S-4700は、画像を高め、利用可能な分析機能の範囲を広げるために、幅広い信号処理機能をユーザーに提供します。リアルタイム3Dイメージング、粒子解析、マッピングを提供する一次電子SEMマシンを搭載しています。結論として、S 4700 Scanning Electron Microscopeは強力で汎用性の高いイメージングおよび分析機器であり、産業、科学、教育分野の幅広い用途向けに設計されています。これは、高度なイメージング機能、正確な測定、さまざまな高度な信号処理機能を1つの手頃な価格のパッケージに組み合わせることができます。