中古 HITACHI S-4700 #9058859 を販売中
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販売された
ID: 9058859
ヴィンテージ: 1998
Field emission scanning electron microscope (FE SEM)
Type I
Resolution:
Accelerating voltage: 15 kV
Working distance: 12 mm 1.5 nm
Accelerating voltage: 1 kV
Working distance: 2.5 mm 2.5 nm
Magnification:
High magnification mode: 100x to 500,000x
Low magnification mode: 20x to 2,000x
Electron optics:
Electron gun: Cold cathode field emission
Extracting voltage (Vext): 0 to 6.5kV
Accelerating voltage (Vacc): 0.5 to 30kV (in 100V steps)
Lens: 3-stage electromagnetic lens, reduction type
Objective lens aperture: Moveable aperture
(4) Openings selectable / Align-able outside column
Self-cleaning thin aperture
Astigmatism correction coil (Stigmator): Electromagnetic type
Scanning coil: 2-stage electromagnetic-deflection type
Specimen stage:
X Traverse o to 25 mm (Continuous)
Y Traverse o to 25 mm (Continuous)
Z Traverse 2.5 to 27.5 mm (Continuous)
Tilt -50 to +450
Rotation: 3600 (Continuous)
Specimen size (Airlock type specimen exchange)
Maximum: 100 mm (Diameter)
Display unit:
Display type: Flicker- free image on PC monitor (Full scanning speeds)
Viewing monitor: Type 17
Color: 1024 x 768 pixels
Photo CRT (Option): Ultra-high resolution type (Effective field of view 120 x 90 mm)
Scanning modes: Normal
Reduced area
Photo
Split/Dual magnification
Line
Position setting
Spot
AAF (Analysis Area Finder)
SAA (Selected Area Analysis)
Scanning speeds: Fast
Slow: 0.5 to 40 see for frame viewing
For photo mode: 20/17, 40/33, 80/67, 160/167, 320/333
Fast: NTSC or PAL signal Value of (50 HZ)/(60 Hz)
Signal processing modes:
Automatic brightness control
Gamma control
Automatic focus
Automatic stigmator
Automatic data display:
Film number
Accelerating voltage
Magnification
Micron bar
Micron value
Date / Time and working distance
Data entry:
Alphanumeric characters
Numbers and marks can be written on image from keyboard
Electrical image shift: +/- 15um (WD = 12mm)
Evacuation system:
System type: Fully automatic pneumatic-valve
Ultimate vacuum levels: Specimen chamber 7 x 10'4 Pa
Electron gun chamber:
IP-1 2 x 10'7 Pa
IP-2 2 x 10'6 Pa
IP-3 7 x 10'5 Pa
Vacuum pumps: Electron optical system: (3) Ion pumps
Specimen chamber: Oil diffusion pump
Turbo molecular pump (option)
(2) Oil rotary pumps
Oil-less type compressor
Protection devices:
Warning devices power failure
Cooling-water interruption
Inadequate vacuum
Others:
Acoustic noise Less than 65 dB
Dielectric voltage-withstand: 1500VAC/1min
No EDX
1998 vintage.
HITACHI S-4700は、幅広い高性能アプリケーション向けに設計された高度な走査型電子顕微鏡（SEM）です。この顕微鏡は、高解像度および倍率イメージングと幅広い標本観察モードを組み合わせています。HITACHI S 4700は、操作とデータ収集のエクスペリエンスを最適化するSmartMeisterと呼ばれる再設計された制御システムを備えています。SmartMeisterのユーザーフレンドリーなインターフェースは、複雑なデータ分析プロセスを理解しやすくし、ユーザーが画像条件を素早く調整できるように設計されています。この装置には可変真空チャンバーが装備されており、高解像度を維持しながら試験片を正確に観察することができます。可変真空チャンバーは、チャンバーへの空気の侵入を防ぐことにより、汚染を大幅に低減するのに役立ちます。S-4700は、ナノメートルスケールの解像度と最大300,000xの倍率で高解像度のイメージングを可能にします。また、さまざまな要件に合わせてカスタマイズ可能な高度な分析ソフトウェアを含む、幅広い制御および分析機能を搭載しています。この顕微鏡には、二次電子イメージング（SEI）、後方散乱電子イメージング（BEI）、エネルギー分散分光法（EDS）、電子後方散乱回折（EBSD）などの観察モードが含まれています。これらのモードは、組成的人口統計、地形、および局所電場の評価を含む幅広い材料特性の詳細な分析を可能にします。S 4700は、オブジェクトの3D画像を生成することができ、自動化された操作機能を備えており、時間の節約と一貫した操作を可能にします。また、大型試料ステージ、自動化されたサンプル変更メカニズム、完全自動表示システム、自動化されたワークフロープロセスの実装をサポートしています。HITACHI S-4700は、幅広い高性能アプリケーション向けに設計された高度な走査型電子顕微鏡です。様々な制御・解析機能を搭載しており、材料特性の詳細解析や自動化機能を活用した効率的な運用が可能です。
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