中古 HITACHI S-4700 #293829170 を販売中

HITACHI S-4700 Scanning Electron Microscope （SEM）は、ナノ構造材料の研究のための高度なイメージングおよび分析ツールです。優れたイメージング機能と独自の超高分解能のろ過装置を組み合わせ、研究者に最高レベルの分析データを提供します。HITACHI S 4700には、試料に焦点を当てた電子ビームを正確に誘導する最先端の電子銃が搭載されています。これらの電子は試料中の原子と相互作用し、その後高感度検出器によって収集される信号を生成します。その後、電子は標本段階に戻り、それらが集中して検出器にリダイレクトされます。S-4700の電子銃は、その優れた解像度の重要なコンポーネントです。デュアルフィルターシステムは、画像に干渉する可能性のある任意の信号をフィルタリングする外側フィールドフィルターと、信号をさらに精製する内側フィールドフィルターの2つのフィルタを組み合わせています。2つのフィルタを組み合わせることで、最高の信号対ノイズ比を実現し、画像と解像度を向上させます。S 4700には、さまざまな分析および検出アクセサリを装備できます。これには、異なるコントラスト領域の測定精度を向上させるための4要素分散補正光学ユニットと、3Dイメージング用のチルト/ステージマシンが含まれます。HITACHI S-4700では、様々な画像取得・解析ソフトも提供しています。標準的な画像コレクションに加えて、高度な微細構造特性評価のための可視化および分析ソフトウェアの範囲と互換性があります。SEMのソフトウェアは、特殊なイメージングプログラムやコンピュータ断層撮影法を実行して3Dイメージングおよび材料科学アプリケーションを実行するためにも使用できます。HITACHI S 4700は、材料科学、地質学、医学など様々な分野での応用に最適なツールです。S-4700 Scanning Electron Microscopeは、優れたイメージングおよび解析機能を備え、ナノ構造材料の研究に最適なツールです。