中古 HITACHI S-4700 #293813489 を販売中

HITACHI S-4700 Scanning Electron Microscope （SEM）は、高解像度イメージング用に設計されたフロアスタンディング装置です。ポールピースとwehneltキャピラリーレンズを備えた新世代のSTEMインレンズ設計、高解像度ボルトと電流ディスプレイ、180mmの作動距離範囲でのフォーカス能力を可能にするオートフォーカス装置、高精度ステージでの高度なイメージングワークフローを備えています。HITACHI S 4700の検出器は、30nmの解像度と5メガピクセルの光学ズームを備えた後方散乱型マシンビジョンシステムで構成され、ユーザーの画像処理を記録するための高品質カラーカメラを内蔵しています。ABAT （Automated Beam Acquisition and Tracking）ユニットを使用すると、ターゲット材料のビームを自動的にフォーカスして追跡できます。また、Beam Auto Centering （BAC）マシンとFast Data Transferを組み合わせることで、高速かつ正確な高解像度イメージングを提供します。S-4700のメインレンズは、12。5インチの内側と外側のレンズの組み合わせで構成されています。インナーレンズ（wehnelt）は、高解像度のポールピースレンズで、検出感度を向上させ、ポイントスプレッドを決定し、高解像度のイメージングを提供します。外側のレンズは、低電圧で安定した照明を確保するために非常に均一な静電界を作成します。全体的な結果は、精密で高速で、細かいディテールの高解像度イメージングを提供するレンズツールです。S 4700には、ビームウィンドウのサイズ、スキャン速度、および画像の明るさを正確かつ迅速に制御できるマルチモードスキャンアセットも装備されています。これは、ナノファイバーや他の種類のナノ粒子のような非常に小さな標的を撮影する場合に特に有用である。マルチモードスキャンモデルを使用すると、ユーザーはビーム幅と強度を調整して、マイクロレベルとナノレベルで前例のない詳細を達成することができます。最後に、日立S-4700は、ハイエンドの研究で広く使用されており、サブミクロンの世界の素晴らしい画像を生成する能力を持っています。DIS （Digital Interface Equipment）や高度な点解像度システムなどのインタフェースにより、ユーザーは迅速かつ正確にデータを収集できます。HITACHI S 4700は、自動ビームトラッキングおよびオートセンタリング機能と相まって、幅広い用途において比類のないイメージング性能を提供します。