中古 HITACHI S-4700 #293762418 を販売中

HITACHI S-4700は、200nmまでの小型サンプルの高解像度イメージング用に設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。高分解能電子カラム、二次電子検出器、電子後方散乱、エネルギー分散X線・X線回折検出器など、様々な高度な機能を備えています。HITACHI S 4700は、コールドフィールド放出源とサーミオン放出源を組み合わせたデュアルビームコラム設計を採用しています。この設計により、従来のSEMシステムよりも低いビーム電流密度と電子線量でビーム電流と分解能を高めることができます。また、優れた画像コントラストを提供し、サンプル表面形態のより詳細な分析を可能にします。S-4700は30kVの加速電圧を提供できる電子カラムによって動力を与えられ、60kVまでオーバークロックすることができます。その二次電子検出器はまた、低用量のイメージング機能と複雑なサンプル形状のイメージングを可能にするさまざまな収集角度を提供します。S 4700の電子後方散乱機能は、マルチチャネル検出器を介して提供されます。このシステムにより、研究者は傾きや方位角を含む多数の指向サンプル形状を迅速かつ正確に測定することができます。HITACHI S-4700は、エネルギー分散型X線 （EDS）およびX線回折（XRD）検出器も提供しています。これらの検出器は、元素組成から結晶構造まで、さまざまなサンプル特性を洞察します。HITACHI S 4700は、作業負荷を低減し、スループットを向上させるさまざまな機能を備え、高度に自動化されています。また、直感的なWindowsベースのグラフィカルユーザーインターフェイスを備えており、標本画像やセンサーデータに簡単にアクセスできます。その多くの技術的機能に加えて、S-4700は非常に信頼性が高く、耐久性があり、安全であることが証明されています。また、優れた使いやすさとメンテナンス性で知られており、学術的および産業的用途に適しています。全体的に、S 4700は200nmまでのサンプルの高解像度イメージングのための走査型電子顕微鏡の優れた選択肢です。強力な機能、高精度、信頼性を兼ね備えているため、世界中の研究室に最適です。