中古 HITACHI S-4700 #293758113 を販売中

HITACHI S-4700
製造業者
HITACHI
モデル
S-4700
ID: 293758113
Scanning Electron Microscope (SEM).
HITACHI S-4700は、広範囲のサンプルを異なる倍率でイメージングおよび解析するために設計された走査型電子顕微鏡(SEM)です。高精細画像システムを特長とし、二次電子検出器では最大分解能0。8nmの高解像度画像を提供します。HITACHI S 4700は、広い視野を持つ広範囲の電子光学系を提供する高傾斜インレンズ検出器を搭載しています。インレンズ検出器は、約1-2nmの解像度のイメージングに最適で、高コントラストでシャープな画像を生成することができます。さらに、レンズはより強力で制御された加速電圧を備えており、高品質のイメージングを保証します。S-4700に広い範囲の精密な温度調整が付いている環境の部屋があります。これにより、サンプルを精密な温度でネイティブ環境で分析することができます。内蔵のペルチェ冷却ステージは、液体窒素のような状態でサンプルを保持し、蒸発を防ぎ、正確なサンプル制御を保証します。S 4700には、光電子バックスキャッタ、二次電子信号、さまざまな種類のサンプルの分析のための差分信号など、いくつかの異なる信号検出器も含まれています。検出器には取り外し可能なエネルギーフィルターも備えており、サンプルを分析する際に定量的および定性的な結果の両方を改善するように設計されています。また、HITACHI S-4700は、複雑な表面構造や曲面構造の解析に不可欠な3D画像を取得する機能を備えています。内蔵のステージコントロールにより、傾斜、シフト、回転のサンプルが視野角を正確に制御できます。傾斜機能により、試料を表面から最大70°下方まで撮影することができます。このSEMには、強力なイメージングと分析オプションを提供する高度なソフトウェアもあります。自動パーティクル認識、デュアルイメージング、画像修復ツールなどのソフトウェア機能は、高倍率機能と組み合わせて使用できます。全体的に、HITACHI S 4700スキャン電子顕微鏡は、標本のイメージングと分析のための強力なツールです。高解像度イメージングシステム、強力な加速電圧、環境チャンバーなどのユニークな機能により、幅広いサンプルの正確なイメージングと分析に最適です。
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