中古 HITACHI S-4700 #150536 を販売中
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ID: 150536
FE SEM
1.5 nm resolution at 15 kV, 12 mm WD
2.5 nm resolution at 1 kV, 2.5 mm WD
Magnification ranges: 30x to 500,000x
Specimen tilt at 12 mm WD up to 45°
Brightness: ~ 2 X 109 A / cm2/sr
Energy spread: 0.2 to 0.3 eV
Sample capacity: 100mm diameter x 17mm thick H maximum
Oil-free vacuum systems pump column and sample exchange
Image modes: secondary and backscattered electron images
(2) Secondary electron detectors: above and below objective lens
Digital image formats:
BMP, TIFF, JPEG at 640 X 480, 1280 X 960, or 1560 X 1920 pixels
Includes:
Non-cryo sample holders
CryoSEM observation using EMITECH K-1250 cryo stage
Backscatter imaging at TV rates and low voltage (threshold 2.5 kV on gold) with Autrata modified YAG (yttrium aluminum garnet, cerium doped) crystal
KEITHLEY specimen current detector
Applications:
High-resolution topographic contrast (Se) and atomic number contrast (BSe) imaging of biological and non-biological samples in both room temperature and cryo modes
Applicable to imaging of immunogold labeled individual cells and bacteria
Specifications:
Secondary electron image resolution
2.1 nm guaranteed (at 1 kV)
1.5 nm guaranteed (at 15 kV and W.D. 12 mm or X-ray analysis position)
Backscattered electron image resolution (optional)
3.0 nm guaranteed (at 15 kV YAG detector, optional)
Cold finger and specimen exchange chamber as standard. Allowing sample exchange via airlock without repositioning
Optional integrated EDX system with 30 degree take-off angle
Fully digital imaging, image processing and archiving system
Dual SE detectors for versatile imaging (SE and BSE)
ExB energy filter
Beam shift: +/-15um.
HITACHI S-4700は、日立製作所のSEMシリーズの一部である走査型電子顕微鏡（SEM）です。HITACHI S 4700は、高品質な画像を生成し、ユーザーフレンドリーな機能を多数備えた高性能SEMです。S-4700は、研究や教育施設で使用するための優れた選択肢を作るユニークな特性の数を持っています。広い視野（FOV）を持ち、大きなサンプルや領域の画像をキャプチャすることができます。高解像度とコントラスト機能により、バックグラウンドノイズを最小限に抑えた詳細でシャープな画像を生成します。イメージスタックモードでは、さまざまな視野角と倍率で複数の連続スライスを取得できます。S 4700は多種多様なサンプルタイプに適しています。その高速かつ強力な倍率範囲（最大1000x）は、ナノメートルレベルの解像度で金属やセラミックスなどの観察に適しています。その電圧設定の広い範囲（0.5kV-30kV）は、ユーザーが迅速にさまざまな形状、サイズ、材料のサンプルの観察のための顕微鏡を調整することができます。電子ビームのための小さなスポットとカラムのサイズのオプションは、サンプルの観察のためのさらなる柔軟性を提供します。HITACHI S-4700には、ユーザーフレンドリーな機能が多数搭載されています。その大きなLCDディスプレイとタッチスクリーンインターフェイスは、SEMのすべての機能と設定に簡単にアクセスできます。低温モード、自動ドリフト補正システム、オートセンタリングカメラにより、データ収集プロセスを簡単かつ手間のかからないものにします。結論として、HITACHI S 4700は高品質の画像を生成する高性能SEMであり、多くのユーザーフレンドリーな機能を備えています。汎用性が高く、幅広いサンプルや素材を探索することができます。その広い視野と強力な倍率範囲は、ナノメートルレベルの解像度で金属やセラミックスの観察などの用途に適しています。
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