中古 HITACHI S-4700 Type II #9226563 を販売中
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ID: 9226563
ヴィンテージ: 1998
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM), 6"
Substrates, 6"
Main unit:
HITACHI FE Tip (Vext 4.7)
(4) BARTON Ion pumps
Main chamber pump: Diffusion pump
Stage: Type 2 (5 Axes motor)
(2) SE Detectors
Ion pump power: HITACHI Electron
BSE Detector
Vibration isolation table
Utility:
(2) Rotary pumps
Down transformer: Auto transformer
(2) Pumping hose types
Resolution:
Accelerating voltage: 15 kV
Working distance: 12 mm - 1.5 nm
Accelerating voltage: 1 kV
Working distance: 2.5 mm - 2.5 nm
Magnification:
High magnification mode: 100x to 500,000x
Low magnification mode: 20x to 2,000x
Electron optics:
Electron gun: Cold cathode field emission type
Extracting voltage (Vext): 0 to 6.5 kV
Accelerating voltage (Vacc): 0.5 to 30 kV (in 100 V steps)
Lens: 3 Stages electromagnetic lens, reduction type
Objective lens aperture: Movable aperture (4 Openings selectable / Alignable outside column)
Self-cleaning thin aperture
Astigmatism correction coil (Stigmator) type: Electromagnetic
Scanning coil type: 2 Stages electromagnetic-deflection
Specimen stage:
X Traverse: 0 to 25 mm
Y Traverse: 0 to 25 mm
Z Traverse: 2.5 to 27.5 mm
Tilt: -5° to +45°
Airlock type:
Specimen exchange: 100 mm (Diameter)
Display unit:
Display type: LCD Monitor
Photo CRT (Option): Ultra-high resolution (Effective field of view 120 × 90 mm)
Control PC: COMPAQ DC7700
Control panel: HITACHI Image control panel
Keyboard: HP 101 Keyboard (English)
Operating system: Windows XP
Scanning modes: (Normal scan)
Reduced area scan
Line scan
Sport analysis
Average concentration analysis
Scanning speeds: Fast, slow 0.5 to 40 / sec per frame for viewing 20/17, 40/33, 80/67, 160/167, 320/333 sec per frame for photo mode
Value of (50 / 60 Hz)
Fast: NTSC / PAL Signal
Evacuation system:
System type: Fully automatic pneumatic-valve system
Ultimate vacuum levels:
Specimen chamber: 7 x 10^-4 Pa
Electron gun chamber:
IP-1: 1 x 10^-7 Pa / Better
IP-2: 2 x 10^-6 Pa / Better
IP-3: 7 x 10^-5 Pa / Better
Vacuum pumps:
Electron optical system: (3) Ion pumps
Specimen chamber: Turbo molecular pump
(2) Oil rotary pumps
Compressor: Oil-less type compressor
Protection devices:
Power failure
Cooling-water interruption
Inadequate vacuum
1998 vintage.
HITACHI S-4700 Type IIは、表面や薄膜などの高解像度画像を可能にする走査型電子顕微鏡（SEM）です。10,000倍以上の倍率を実現し、高度な画像処理を実現します。システムの設計には、優れた精度、移植性、および効率的な操作が組み込まれています。HITACHI S 4700 TYPE II SEMは、光学カラム、電子キャビネット、サンプルチャンバー、制御コンソールで構成されています。電子線を放出する場の電子銃を利用し、高解像度の画像を作成します。この電子ビームは、サンプルの表面を細かくスキャンするためにカラム光学系を利用して変調され、成形されます。また、さまざまな形状とサイズの標本を保持することができる大型の標本テーブルを持っています。その後、ビームを加速してサンプルに集中させ、電子がサンプルに衝突したときに放出される二次電子と後方散乱電子から検出される信号を生成します。この情報は、調整可能なゲインおよび信号処理制御ユニットを含む制御コンソールに表示されます。SEMコントロールパネルを使用すると、ビーム電流/電圧、スキャン速度、スポットサイズ、およびイメージストレージ設定を調整できます。S-4700 タイプIIには、透過電子顕微鏡（TEM）モードを備えた焦点調整ノブがあり、イオンスライス膜のより詳細な画像を提供することができます。また、深度プロファイリングを採用しているため、試験片の深さプロファイルをさまざまな倍率で監視することができます。さらに、明るさ調整ノブは、信号ノイズのレベルを低減し、より対照的な画像を生成する能力をユーザーに提供します。このシステムは、細胞生物学、材料科学、金属学など、さまざまな用途に適した非常に高品質な画像を生成します。それは実験室の使用の厳しさに抗するように設計されている非常によく造られたシステムです。操作が簡単で、携帯性により、現場やリモートでの使用に便利です。
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