中古 HITACHI S-4700 Type II #293802476 を販売中
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ID: 293802476
ヴィンテージ: 2002
Scanning Electron Microscope (SEM)
EDS
Does not include PC
2002 vintage.
HITACHI S-4700 Type IIは、物理的に接触することなく試料表面を調べることができる高度な走査型電子顕微鏡（SEM）です。このSEMモデルには、高解像度イメージングおよび分光試験に不可欠な機能がいくつか搭載されています。高精度の電子光学機器、高真空室、低ノイズ電子銃などが特徴です。HITACHI S 4700 TYPE IIの電子光学系には、最大10ナノアンプの電流を持つ収差補正対物レンズが搭載されています。この高解像度レンズにより、最大0。7nmの解像度の高コントラスト画像を得ることができます。さらに、S-4700はビームステアリングとエネルギー選択を同時に行うことができます。インコラム・ビーム・ステアリング技術を採用することで、様々な電子ビーム・エネルギーを1回のパスでサンプルの複数の領域をスキャンすることができ、検査手順を短縮することができます。S-4700 タイプIIの高真空チャンバには、日立が開発したデュアルモード高真空ポンプ装置が搭載されており、残留ガス圧を最小限に抑えて安定した解析が可能です。可変高電圧電源を搭載し、試料表面の電子爆撃誘発充電を防止します。このS-4700には、電子ビームの明るさを低減するための低ノイズ電子銃が装備されています。ノイズ低減機能に加えて、S-4700には高感度の非破壊電子検出器も付属しています。これにより、他のSEMモデルと比較して、非破壊的で高解像度のイメージングおよび分光試験を必要とする幅広いアプリケーションが可能になります。S 4700 TYPE IIでは、リアルタイムのエネルギー分散型X線 （EDX）分光法により、試料表面の様々な元素を同定・測定することが可能です。表面のすべての元素のEDX信号を測定することにより、研究者は追加情報を提供して標本を分析することができます。HITACHI S-4700 Type IIは、低加速電圧で高解像度の画像やスペクトルを取得できる強力なSEMです。1つのパスで複数のサンプル領域を分析できるため、研究者はサンプルを迅速かつ正確に検査することができます。さらに、EDX分光機能を使用して、試料表面の元素組成に関する洞察力を得ることができます。このような特長を持つ日立S 4700 TYPE IIは、走査型電子解析を必要とするあらゆる実験室に欠かせない機器です。
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