中古 HITACHI S-4700 Type II #293602528 を販売中

ID: 293602528
ヴィンテージ: 2001
Scanning Electron Microscope (SEM) Secondary electron resolution: 2.1 nm at 1 kV 1.5 nm at 15 kV and WD: 12 mm or X-ray analysis position Backscattered electron resolution: 3.0 nm at 15 kV with YAG detector Magnification: LM: 20-2,000x HM: 100-800,000x Specimen stage: X-Axis: 0-100 mm Y-Axis: 0-50 mm Z-Axis: 1.5-30 mm Tilt: -5 - +60° R: 360° Trackball operation 5-Axis motorization Vacuum: Diffusion pump 2001 vintage.
HITACHI S-4700 Type IIは、高分解能イメージングを実現する走査型電子顕微鏡(SEM)です。半導体、マイクロデバイス、回路基板など、さまざまな電子材料のイメージングに興味を持っているユーザーに向けた製品です。この顕微鏡は、研究者がこれまで以上に高い解像度でより詳細に観察することを可能にします。一次および二次電子検出を利用しており、非常に小さなスケールでも正確な画像を得ることができます。HITACHI S 4700 TYPE IIは、空冷電子源を搭載したデスクトップSEMで、手間をかけずに安定したイメージングを実現します。この顕微鏡の最大倍率は最大2000xであり、その結果、画像の非常に細かいディテールが得られます。この顕微鏡はまた、低エネルギー後方散乱電子検出器、高分解能モノクロメータ、ロボットサンプルホルダー装置など、イメージングプロセスをスムーズにするために設計されたさまざまな機能を備えています。S-4700 タイプIIは、試料の厚さや表面トポロジーに関係なく、様々な材料を分析することができます。このモデルは、厚さが1ミクロン未満の材料を分析する必要がある研究者にとって有益です。この顕微鏡には、ラインスキャンされた電子銃、25面ステージシステム、クロムコーティングユニット、広角後方散乱電子検出器、5軸マニピュレータなど、さまざまなセンサーと機能が搭載されています。S 4700 TYPE IIは、イメージング機能に加えて、化学組成や電気特性の解析も可能です。分光計を内蔵し、化学組成情報を取得することができ、二次電子検出機はこれまで以上に高解像度で詳細な画像を取得することができます。この顕微鏡は、表面電位を解析する機能も備えており、HITACHI S-4700 Type IIは、表面に関連する現象を研究するための強力なツールです。最後に、HITACHI S 4700 TYPE IIは、リモートで構成し、実質的にどこからでも制御することができ、遠隔監視や制御に適しています。これは、たとえ研究室から離れていても、SEMの制御を維持する必要がある人にとって理想的な選択肢です。S-4700 Type IIは、小規模で材料や物体を学ぶ必要がある人のニーズに応えるように設計された先進的な機器です。その機能と機能は、正確さや品質を犠牲にすることなく、材料をイメージングし、有用な情報を得るための強力なツールになります。
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