中古 HITACHI S-4700 Type II #293587272 を販売中

HITACHI S-4700 Type IIは、最大倍率30万倍の試料を高解像度で撮影できるように設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。振動を低減し、画質を向上させる新しい防振設計を備えています。HITACHI S 4700 TYPE IIは、サンプルステージ、光学系、プログレッシブ倍率を含むモジュラー機器です。光学ユニットには、電子銃、柱レンズ、対物レンズ、イメージングマシンが含まれています。サンプルステージは可動式で、幅広いサンプルサイズに対応できます。プログレッシブ倍率機能は、最大倍率30万倍の詳細領域の高解像度画像を提供します。内蔵の画像解析機能により、迅速かつ簡単なデータ操作と分析が可能です。S-4700 Type IIには、画質を向上させるためのエリアディテクタと信号処理ツールが搭載されています。エリア検出器は、信号ピークと谷の検出範囲を広げることができ、信号処理アセットは、さらなる信号処理、歪み補正、およびさまざまな視野角を可能にします。検出器の信号処理により、コントラスト分解能とコントラスト分解能が向上し、サンプルの特徴をより詳細に見ることができます。このSEMを使用すると、コントラスト、輝度、拡大ビューなどのさまざまな画像処理機能を組み合わせて、サンプルの明るい画像とコントラスト画像をキャプチャできます。S 4700 TYPE IIは、高解像度イメージングに加え、広視野画像モデルも搭載しています。この装置は、高解像度のイメージングを提供しながら、試料の焦点深度を高めることができます。広い視野は、広い領域からサンプル内の細部をキャプチャすることができます。また、コントラスト反転やコントラストストレッチなど、さまざまなコントラストモードを備えており、イメージコントラストを強化し、細部を明らかにすることができます。HITACHI S-4700 Type IIは、様々な試料の調製方法も提供しています。スパッタコーターを内蔵しているため、試料表面を均一に被覆することができ、マルチレベルの物質分析と画質の向上が可能です。このデュアルイオン化源により、化学種の分析が可能になり、背面散乱電子検出器によってサンプルの詳細な地形解析が可能になります。HITACHI S 4700 TYPE IIは、非常に小さな標本を研究、分析、文書化するための貴重なツールです。高度な設計と機能を備えたこのSEMは、高解像度のイメージングと詳細な標本分析を必要とするあらゆるアプリケーションに最適です。