中古 HITACHI S-4700 Type I #9265144 を販売中

HITACHI S-4700 Type I
ID: 9265144
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM).
HITACHI S-4700 Type Iは、高性能スキャン電子顕微鏡(SEM)です。0。4ナノメートルの超高解像度で、様々な標本を高精度で撮影するのに最適です。この先進的な装置には、試料表面解析用の高エネルギー電子ビームを生成する高度な電界放射銃(FEG)が搭載されており、最終的な画像サイズは最大4,000 x 3,000ピクセルです。設計の面では、S-4700 Type Iは、任意のラボワークスペースに収まるコンパクトな設計レイアウトを備えており、さまざまなジオメトリで使用することもできます。このシステムはまた、SEMカラムの動作を詳細かつ正確かつ効率的に制御することを可能にする強力な電子制御ユニットを備えています。高度な画像処理装置には、電子対物レンズと放物線形コレクターレンズという2つの強力なレンズが組み込まれており、通常の光学顕微鏡では見ることのできない情報を捉えることができます。また、HITACHI S-4700 Type Iは、オプションの圧力ユニットを使用して、広い被写界深度、高コントラストイメージング、広い被写界深度、後方散乱イメージング、低倍率イメージング、可変圧力イメージングなど、さまざまなイメージング機能を備えています。これは、結晶構造の表示に最適な高解像度マトリックスイメージングを提供する市場で唯一のSEMツールです。さらに、高度な画像アセットには、コントラストの強化や3次元イメージングなど、出力イメージを強化できるさまざまな機能が含まれています。安全面では、S-4700 Type Iは、通過保護や電子ビームへの曝露を制限する電子シールドユニットなど、潜在的に有害な放射線からユーザーを保護する高度な安全機能を備えています。また、露出リスクをさらに低減する低電圧電子銃で設計されています。HITACHI S-4700 Type I Scanning Electron Microscopeは、研究者に比類のないイメージング機能を提供する先進モデルです。超高解像度で幅広い機能を備えているため、非常に小さな標本を複雑なディテールで撮影するのに理想的です。
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