中古 HITACHI S-4700 Type I #293604809 を販売中

HITACHI S-4700 Type I Scanning Electron Microscope （SEM）は、集光電子ビームを用いてサンプルの構造を拡大・解析するイメージング装置です。高解像度で、視覚検査と顕微鏡分析の両方に幅広い可能性を提供します。このS-4700は、電子銃を使用して、磁気レンズシステムによって制御された、厳密に集中した電子ビームを生成します。電子銃は、電子を生成する反陰極を含む真空チャンバーです。この電子ビームは試料全体に走査パターンで動員され、電子と試料表面原子の相互作用によって二次信号が生成され、それが電子検出器によって拾い上げられ、画像を生成するように解釈されます。このS-4700は、イメージングに加えて、エネルギー分散分光法（EDS）または波長分散分光法（WDS）を使用して、サンプルの化学組成を元素解析することができます。このS-4700は20kVで2nmの究極の画像分解能を有しており、半導体ウェハの滑らかな表面の観察からナノワイヤ内部の検査まで、幅広い用途に適しています。この顕微鏡は、非導電試料の観察も可能で、様々な産業用途に適しています。S-4700はまた、低真空イメージング機能を備えており、サンプル調製なしでサンプルを見ることができます。これは、サンプルチャンバーにポンプを導入することによって実現されます。これにより、低圧真空が生成され、イメージング前にサンプル上の真空コーティングが不要になります。S-4700の他の機能には、Autofocus、 Motorized Stages、 Image Management Suite、 Data Analysis Softwareなどがあり、科学者やエンジニアが高速で正確な分析を実行できるようになります。全体的に、S-4700 Type I SEMを使用すると、任意のサンプル表面で最も微細なフィーチャーの画像を簡単にキャプチャ、分析、解釈できます。それは複数の顕微鏡の適用のために適した信頼でき、多目的なイメージ投射の器械です。