中古 HITACHI S-4700 II #9389830 を販売中

HITACHI S-4700 IIスキャン電子顕微鏡（SEM）は、幅広い業界の研究開発、品質保証、故障解析アプリケーションに使用される先進的なイメージング機器です。これは、動作倍率1。3〜500,000倍で最大30,000倍の高解像度イメージングを提供します。このシステムには、コールドフィールドエミッションガン（FEG）が搭載されており、2つの電子光学システム、ライトユニット、および高性能マシンが選択できます。HITACHI S 4700 IIは、2つの検出器の同時動作を可能にする独自のデュアル検出機能を備えています。この機能により、測定精度が向上し、解析が高速化され、処理時間が短縮されます。分析検出器ツールには、組成解析用の逆散乱電子検出器と、3次元表面イメージング用の二次電子検出器が含まれています。一方、光検出器のアセットは、高速イメージング用の光検出器と生物標本のカラーマッピング用の明るいフィールド検出器で構成されています。S-4700-IIには、4要素検出器を備えたエネルギー分散X線分光計（EDS）と自動アライメントモデルも搭載しています。これにより、操作の効率が向上し、手動のアライメントが不要になります。EDSは元素マッピング解析、原子レベルまでの元素の検出と同定を可能にします。これらの効率的な機能により、HITACHI S-4700-IIは高速データ処理と高解像度イメージングの最適なバランスを提供します。S 4700-IIの自動銃光学装置は、正確なビーム調整のための自動追跡とファインフォーカス制御を備えています。さらに、このシステムはパルスモードイメージングとドリフト補償（DSC）が可能で、高精度でデータを収集するのに一般的なサーマルドリフトを低減します。S-4700 IIは、直感的なグラフィカルユーザーインターフェイス（GUI）と自動マクロ機能を備えており、運用効率を向上させます。GUIを使用すると、ソフトウェアを簡単にナビゲーションでき、回路基板や生体細胞などの大きな標本領域から非常に詳細な画像を取得できます。S 4700 IIは、効率的な自動化とユーザーフレンドリーな操作を組み合わせた高解像度イメージングを必要とする研究者やエンジニアに理想的な走査型電子顕微鏡です。HITACHI S 4700-IIは、精度、スピード、分析能力を備え、高度な機能を組み合わせた最高の走査型電子顕微鏡エクスペリエンスを提供します。