中古 HITACHI S-4700 II #293814500 を販売中

製造業者
HITACHI
モデル
S-4700 II
ID: 293814500
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) EDAX detecting unit Stage control Trackball control ExB filter Critical Dimension (CD) measurement system Operating System (OS): Windows Column-mounted turbomolecular pump.
HITACHI S-4700 IIは、高度な顕微鏡アプリケーション向けに設計された高性能スキャン電子顕微鏡(SEM)です。顕微鏡の主な特徴は、統合された画像キャプチャ装置、優れたエネルギー分解能、× 3000までの高解像度イメージング、広磁界、高電圧光学、高分解能イメージング用の高電圧指数(HVI)、および独自のビジュアルフォームデザイン(VFD)検出器などです。さらに、Visual Form Designと革新的な「Nanowise」システムの組み合わせにより、顕微鏡のイメージング機能が最適化されます。HITACHI S 4700 IIの統合された画像キャプチャユニットは、高解像度の画像処理と強力な画像処理機能を提供します。電子検出器とビジュアルフォームデザイン検出器の2種類の検出器を使用しています。電子検出器は微細構造のイメージングに最適ですが、ビジュアルフォーム設計検出器は大きな構造の可視化を可能にします。高電圧オプティクスにより、高解像度の画像を得ることができます。視野の広い磁場は、ユーザーがより大きな領域を表示することができます。S-4700-IIの高電圧指数(HVI)機能は、× 3000までの高分解能イメージングを提供します。これにより、ユーザーはサンプル内の最小の詳細を観察し、区別することができます。この機能により、ユーザーはさまざまなサンプルの電圧と電流設定を調整し、最適な結果を得ることができます。「ナノワイズ」は、高度な画像解析機能を提供することにより、顕微鏡のイメージング機能をさらに強化します。ユニークでユーザーフレンドリーなVisual Form Design (VFD)検出器を使用して設計されたS 4700-IIは、ユーザーが電子検出器からVFDに簡単に切り替えることができる直感的なディスプレイを備えています。VFD検出器は画像を処理して強化し、ユーザーが画像を解釈しやすくします。さらに、VFDの高度な処理機能により、画像ノイズを低減し、画像をより鮮明に表示できます。結論として、HITACHI S-4700-IIは高度な顕微鏡用に設計された高度な走査型電子顕微鏡です。イメージキャプチャツール、優れたエネルギー分解能、× 3000までの高解像度イメージング、広磁界、高電圧光学、高解像度イメージング用の高電圧指数(HVI)、および独自のVisual Form Design (VFD)検出器を内蔵しています。さらに、Visual Form DesignとNanowise Assetの組み合わせにより、顕微鏡のイメージング機能が強化されます。HITACHI S 4700-IIは、さまざまな分野の科学者や研究者に最適な優れた性能を提供します。
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