中古 HITACHI S-4700 II #293605918 を販売中

製造業者
HITACHI
モデル
S-4700 II
ID: 293605918
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM).
HITACHI S-4700 IIは、走査型電子顕微鏡(SEM)のモデルです。材料分析の分野で使用される高性能機器です。HITACHI S 4700 IIは、試料観察、表面組成解析、元素解析、イメージングなど、さまざまな用途に最適な機能を提供します。S-4700-IIには、高真空または可変圧力下でSEMイメージングを行うことができる可変圧力チャンバーがあり、ユーザーは機器上の湿ったサンプルまたは緩いサンプルを調べることができます。また、温度範囲が80˚C〜100˚Cのペルティエ素子冷却ステージも備えています。これにより、別の段階に移すことなく、異なる温度でサンプルの画像を取得することができます。また、高解像度イメージングおよび元素解析用の高解像度検出器を備えています。二次(低真空)電子検出器は視野が広いため、大面積の画像処理や元素分析に最適です。S 4700-IIは、高精度のモーターシステムを備えており、高い安定性と精度を提供し、可能な限り最高の解像度で画像をキャプチャすることができます。自動化されたさまざまなステージと機能を備えており、ユーザーは楽器を素早くセットアップし、簡単に分析を実行することができます。この機器には、サンプルの観察と分析を容易にするためのさまざまなソフトウェアツールが付属しています。標準的なスキャンモードに加えて、S 4700 IIは、元素分析用のエネルギー分散X線分光法(EDS)、 低Z素子のイメージング用の背面散乱電子イメージング(BSEI)、 In-lens Seイメージングの強化などの高度な機能を提供します。結論として、HITACHI S 4700-IIは、材料分析における幅広い用途に理想的な機能と機能を提供する高度な走査型電子顕微鏡です。可変圧力チャンバーとペルティエ素子冷却段を備え、試料の観察と分析を容易にする高解像度検出器とソフトウェアツールを備えています。高精度のモーターシステムを搭載し、安定性と精度に優れています。これは、高品質の画像と信頼性の高いデータを提供することができる洗練された機器を探している研究者や科学者にとって理想的な選択肢です。
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