中古 HITACHI S-4700 II #293592008 を販売中

HITACHI S-4700 II
製造業者
HITACHI
モデル
S-4700 II
ID: 293592008
Field Emission Scanning Electron Microscope (FESEM) Option: EDX.
HITACHI S-4700 IIは、幅広い用途において強力なイメージング機能を提供する最先端の走査型電子顕微鏡です。精度と解像度が高く、ナノスケールのレベルでオブジェクトを詳細に可視化できます。HITACHI S 4700 IIは、試料表面の二次電子(SE)、後方散乱電子(BSE)、透過電子(TE)を高品質に集積することができるトップマウントの差動インレンズ検出器です。傾き範囲が+/-60度の二重傾きの試料ステージを備えており、平面ではない試料を撮影する際の柔軟性を提供します。また、モーター式フォーカスドライブを搭載しているため、ユーザーが直接操作することなく、画像のフォーカスを自動的に調整できます。S-4700-IIは、リアルタイムの画像ステッチ、モンタージュ、自動粒子解析など、多くの画像処理機能を提供しています。また、リモートアクセス、複数の画像の自動取得、遠隔操作のためのS 4700-IIユニットの相互接続機能など、幅広い自動化機能を提供しています。S 4700 IIはオープンソースのワークフローアプリケーションAllViewを利用しており、大規模なデータセットを簡単に管理、分析、アーカイブできます。AllViewを使用すると、ユーザーは画像と対話したり、レポートを生成したり、ユーザー間でデータを共有したりすることができます。HITACHI S 4700-IIは、その高度なスキャン、イメージング、処理能力と相まって、ナノテクノロジー、材料科学、バイオテクノロジーの分野において、単細胞から複雑な構造、材料までの画像サンプルに対応できる貴重なツールです。HITACHI S-4700-IIは、最高レベルの精度と解像度でサンプルを画像および分析するための非常に強力でユーザーフレンドリーなツールを研究者に提供します。
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