中古 HITACHI S-4500 #9183139 を販売中

HITACHI S-4500 Scanning Electron Microscope （SEM）は、電子光学とデジタルイメージング技術を活用し、表面やバルクサンプルの非破壊検査を高精度かつ高分解能で行います。本装置は、高さ約1mm〜300mmの幅広いサンプルサイズに対応することが可能で、湿度とガス対策システムを備えています。HITACHI S 4500は、電子銃を用いて試料表面に侵入する電子ビームを生成します。試料表面と侵入する電子ビームとの相互作用は、二次電子、後方散乱電子、X線を生成し、次いで検出され増幅されます。検出された信号は、サンプルの表面とその組成物の画像を生成するために処理されます。S-4500は、マルチイメージ生成、オートアライメント、イメージフュージョンなどの近代化されたイメージング技術を備えており、従来のSEMよりも高い解像度と高精度で高速な画像取得を可能にします。この技術はまた、3Dイメージングとマッピングの使用を可能にします。S 4500は、イメージング機能に加えて、サンプルの正確な元素分析も提供します。試料の原子数、原子率、元素濃度を測定します。また、非導電場放射走査型電子銃（FESEM）を使用することで、非導電性材料の存在を検出することができます。HITACHI S-4500には、X線マイクロアナリシス、電子電界放出表面解析、電子ビーム誘導電流イメージングなど、検査や品質保証プロセスに役立つ多種多様なイメージングおよび分析ツールが搭載されています。この装置には、自動インターロックシステムやレーザー警告システムなどの多くの安全対策も含まれています。HITACHI S 4500 Scanning Electron Microscopeは、顕微鏡検査から産業検査まで、さまざまな用途に使用できる信頼性が高く、ユーザーフレンドリーで汎用性の高い機器です。イメージングと分析機能を組み合わせることで、S-4500は検査、品質保証、研究のための貴重なツールとなります。