中古 HITACHI S-4500 #9169489 を販売中
この商品は既に販売済みのようです。下記の同じようなプロダクトを点検するか、または私達に連絡すれば私達のベテランのチームはあなたのためのそれを見つけます。
タップしてズーム
販売された
ID: 9169489
Scanning electron microscope (SEM)
Specifications:
Photo CRT:
Ultra high resolution type
Recording area: 120 x 90 mm
Scanning mode:
Normal scan
Split screen / Dual magnification
Line scan
Position setting
Spot
AAF (Analysis area finder)
SAA (Selected area analysis)
Oblique mode
Scanning speed:
0.3, 2, 10, 20 S / Frame for viewing mode
TV, 40,80, 160 S / Frame for photo recording mode
Signal processing / Operation mode:
Automatic brightness & contrast control
Gamma control
Dynamic stigmator monitor
Auto focus
Automatic stigmator
Electrical image shift: ± 20 µm With WD 20 mm
Vacuum system:
Vacuum sequence: Full-auto pneumatic valve system
Ultimate vacuum:
7 x 10-4 Pa (Specimen chamber)
1 x 10-7 Pa (Electron gun chamber)
Vacuum pumps:
Electron optics: (3) Ion pumps
Specimen chamber:
(1) Diffusion pump
(2) Rotary pumps
Compressor
Ion pumps:
IP1= 0.1 x 10-7
IP2= 0.5 x 10-7
IP3= 6 x 10-7
Accessories:
THERMO-SCIENTIFIC EDS Tank
EDS Computer / Controller: No
GW Microchannel:
Control
Detector: No
GW Infrared: Camera control and camera on system
Control panel on SEM
Small manual stage
Performance:
Resolution: 1.5 nm
Accelerating voltage: 30 kV
Working distance: 7 mm
Magnification:
High magnification mode: 50x to 500,000x
Low magnification mode: 20x to 1,000x
Electron optics:
Electron gun: Cold-cathode field emission electron gun
Emission extracting voltage (Vext): 0 to 6.5 kV
Accelerating voltage (Vacc): 0.5 to 30 kV (Variable in 100 V step)
Lens system: 3-Stage electromagnetic lens
Objective aperture:
Movable aperture ((4) Opening selectable / Alignable outside column)
Self-cleaning type thin aperture
Stigmator: Electromagnetic type
Scanning coil: 2-Stage electromagnetic type
Display unit:
CRT: (2) 12" Display monitors including memory unit.
HITACHI S-4500は、大型試料から小型微細構造まで、幅広い試料の表面を撮影するために特別に設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。最大倍率270,000x,超高解像度0。7nmのHITACHI S 4500は、1つのサンプルに含まれる膨大な量のディテールを明らかにすることができます。S-4500は、2つの半球バブルレンズと投影レンズからなるセミアポクロマチック対物レンズを使用して、高エネルギー電子ビームを微細な点に集中させます。ビームはラスターパターンでサンプル全体をスキャンし、サンプル表面から反射した電子を電子検出器に集めます。これらの電子は、サンプル表面の3D表現を構築するために使用されるデジタル画像に変換されます。また、S 4500は、自動統合された測定およびイメージング機能を備えており、生成された画像から直接測定することができます。これにより、物理測定や電気特性を含むサンプルの定量分析が可能になります。これらの測定は、幅広い業界や研究アプリケーションにとって重要です。HITACHI S-4500には真空環境チャンバーがあり、真空条件下で検査する必要のあるサンプルに使用することができます。これは、生体組織や半導体デバイスなどのサンプルの検査に特に重要です。SEMには、真空を破壊することなくサンプルを素早く効率的に交換できる自動試料交換システムも内蔵しています。HITACHI S 4500は、科学者や技術者が任意のサンプルの表面を複雑に詳細に研究することを可能にする、非常に詳細な画像を生成します。これにより、欠陥を分析して特定し、材料組成を分析し、さまざまなコンポーネントや製品の微細構造に関するより大きな洞察を得ることができます。日立のS-4500は、自動車工学やマイクロエレクトロニクスから材料科学、バイオイメージングまで、多くの産業にとって貴重なツールです。
まだレビューはありません