中古 HITACHI S-4500 #293657539 を販売中

HITACHI S-4500 Scanning Electron Microscope （SEM）は、研究開発用に設計された先進的な装置です。これは、非常に小さな物体の非常に詳細な分析を可能にします。SEMは、試料に電子を発射し、試料から戻って散乱している電子を検出することによって試料の画像を作成することによって動作します。この技術は、高解像度と優れた焦点の深さで非常に小さなオブジェクトのイメージングを可能にします。HITACHI S 4500は、二次電子と後方散乱電子の両方を利用して、イメージングと解析を行っています。二次電子は表面や表面の特徴を画像化することができ、逆散乱された電子はサンプルの組成や構造に関する情報を提供する。S-4500により、エネルギー分散分光法（EDS）とX線解析（XA）も可能になります。EDSはサンプルの元素組成を特定し定量化するために使用され、XAはSEMイメージングの分解能限界を下回る小さな特徴の分析を可能にします。また、3Dサーフェスプロファイラを搭載し、サンプル表面の粗さや成形を測定することができます。S 4500は、最大のイメージング分解能を提供するために、メインチャンバーと周辺カラムの両方に高真空状態を維持するデュアルステージ真空システムを内蔵しています。メインチャンバーには、電子源と検出器システムの独立した制御を可能にするオートメーションシステムが装備されています。コンピュータは、HITACHI S-4500のハードウェアを制御し、オートメーションシステムに指示を与え、収集された画像を処理するために使用されます。HITACHI S 4500は、2種類のオペレーティングシステムで動作し、既存のほとんどの処理ソフトウェアとの互換性を実現します。全体として、S-4500走査型電子顕微鏡は、高解像度と優れた焦点深度を提供する強力で信頼性の高い機器です。原子レベルでの超小型天体のイメージングと解析が可能であり、様々な研究開発アプリケーションにエネルギー分散分光法とX線解析を提供しています。