中古 HITACHI S-4500 Type II #9230775 を販売中

HITACHI S-4500 Type IIは、イメージングと解析を両立した走査型電子顕微鏡（SEM）です。高解像度SEMは電子銃を使用して電子ビームを生成し、試料表面に焦点を当て、表面の特徴、元素分布、組成マッピングの観察を可能にします。サンプル機能とその環境のコントラストも詳細に観察できます。HITACHI S-4500 TYPE-IIは、エネルギー範囲が10kV〜30kVの電子ビームを生成する電界放射砲（FEG）電子源を備えています。このエネルギーを使用して、サンプル表面を0。17nmの分解能でスキャンし、非導電性サンプルで0。1nmの検出を行い、導電性サンプルではサブナノメートルの分解能を得ることができます。SEMの異なる電子検出器は、サンプルの二次電子、バック散乱電子、反射電子を測定し、地形、組成、結合の種類など、サンプルに関する豊富な情報を提供します。分析のために、S-4500 Type IIには2つのエネルギー分散X線分光計（EDS）と2つの波長分散X線分光計（WDS）が装備されています。これらの分光計を利用して、試料の元素組成や結晶相を詳細に検出・解析することができます。SEMは、導電率、接触電位差、表面電荷などのサンプル特性を検出、測定、マッピングすることもできます。サンプルの分析は、識別された要素の2Dディスプレイフィールと数値で表示されます。また、TYPE-II S-4500環境システムを活用し、安全な試料観察を実現しています。外部からの影響を防ぐために、SEMには真空チャンバー、クライオポンプユニット、オプションのガスインレットシステム、サンプルヒーター、倍率調整が装備されており、安全で安定したサンプル分析が可能です。HITACHI S-4500 Type II Scanning Electron Microscopeは、スキャン電子ビームと複数の添付分光器を活用することで、サンプル表面の効率的なイメージングと分析を可能にし、サブナノメートル分解能でも地形、元素組成、位相に関する貴重なデータを提供します。環境制御システムは、サンプルの安全かつ正確な分析をさらに支援し、正確で信頼性の高いデータを確保します。