中古 HITACHI S-4500 Type II #293592472 を販売中

ID: 293592472
ヴィンテージ: 1996
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) 1996 vintage.
HITACHI S-4500 Type IIは、幅広い研究・産業用途に対応できるよう設計された高性能デスクトップスキャン電子顕微鏡(SEM)です。HITACHI S-4500 TYPE-IIは、イメージングと解析に焦点を当て、大型サンプルチャンバーと最大2µmの高解像度画像で優れたイメージング機能を提供します。S-4500 タイプIIでは、二次電子イメージング(SEI)、逆散乱電子イメージング(BSE)、エネルギー分散X線分光法(EDS)、波長分散X線分光法(WDS)など、いくつかのイメージング技術を利用しています。S-4500 TYPE-IIには、超高解像度SEMイメージング用の独自の熱場放射銃(TFEG)電子源が搭載されています。TFEG電子源の高度な設計は、より高い電子線量、より高いビームエネルギー、優れた性能を備えており、より高いコントラストとシャープな画像でサンプルの非常に小さな特徴(2nm以下)を測定する能力をユーザーに提供します。HITACHI S-4500 Type IIには、大型サンプルチャンバーと、精密サンプルハンドリング用の幅広いアクセサリーが付属しています。サンプルチャンバーには、正確なサンプルの位置決めと校正のための階層的なX-Yスキャン段階、正確なサンプルの位置決めのための完全な自動相関段階、最大100mmのステージの移動範囲を持つ完全な自動相関段階、サンプルチャンバーのサーマルドリフトを排除するためのサンプルヒートシンクが装備されています。サンプルの可視化と分析を改善するために、測定機能や画像に注釈や図面を追加する機能など、いくつかの自動解析機能が利用できます。HITACHI S-4500 TYPE-IIは、粒子解析、要素マッピングと検出、高度なラインプロファイリングなど、幅広いリアルタイム自動解析をサポートします。S-4500 タイプIIには、サンプルチャンバーの温度安定性を向上させるクローズドループ式活性温度制御システムがあり、全体のイメージング性能と結果の再現性を向上させます。幅広いイメージング、分析、オートメーション機能により、幅広いサンプルの詳細な微細構造解析に最適なツールです。
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