中古 HITACHI S-4500 Type I #9234337 を販売中
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ID: 9234337
ウェーハサイズ: 2"
ヴィンテージ: 1995
Scanning Electron Microscope (SEM), 2"
Resolution:
1.5 nm (15 kV WD-4 mm)
4.5 nm (1 kV WD-3 mm)
Magnification:
F: x50 ~ x500,000
F: x20 ~ x1,500
Electron optical system:
Cold cathode field emission electron gun
Extractor voltage: 0 ~ 6.5 kV
Accelerator voltage: 0.5 ~ 30 kV
Lens system: 3-Stage electromagnetic lens reduction system
Object lens aperture: 4-Position externally selectable
Scanning coil: 2-Stage electromagnetic
X: 0~25 mm
Y: 0~25 mm
Z: 3~28 mm
Range:-5° ~ + 45°
Rotation: 360°
Maximum diameter: 50 mm
Scanning mode:
Normal reduced area
Line scan
Photo scan
Spot position
Split screen
Scanning speed:
TV, 0.3. 2, 10 (9), 20 (26) Sec / Frame
40 (35), 80 (100), 160, 320 Sec / Frame
Signal processing:
Real-time processing
Auto-brightness
Contrast control
Dynamic stigmator
Vacuum system:
Full automatic operation
With pneumatic valve control
Ultimate vacuum:
Electron gun chamber: 10^-7 Pa
Specimen chamber: 10^-4 Pa
(3) Ion pumps
Diffusion pump
(2) Mechanical pumps
Air compressor
Protective device:
Blackout
Water outage
Low vacuum
1995 vintage.
HITACHI S-4500 Type Iは、汎用研究用の高性能スキャン電子顕微鏡（SEM）です。これは、イメージング、元素および化学分析、およびさまざまなサンプルタイプの元素マッピング用に設計されています。S-4500 Type Iの加速電圧は0。1〜30kV、最小スポットサイズは1nm、最大拡大電力は950,000xです。さらに、この顕微鏡には、2つの環境チャンバー、新しい電界放出電子銃、および低ノイズ検出器が装備されています。HITACHI S-4500 Type Iは、標準走査型電子顕微鏡と分析エネルギー分散X線 （EDX）分光法の両方が可能です。この高度なイメージング技術により、ナノスケールでサンプルの構造と組成を可視化、測定、分析することができます。EDXの検出限界は12ppm、解像度は1。2eVで、精度の高い元素解析が可能です。EDXシステムには、複数のサンプルの解析を容易にする自動プログラミング機能も搭載しています。S-4500 Type Iは、物理、化学、生物学的用途における高精度イメージング、解析、元素マッピングに最適化された高度な走査型電子顕微鏡です。フィールド放出電子銃と環境チャンバーは、高解像度と低ノイズで画像処理を可能にします。さらに、EDXシステムの検出限界は12ppm、解像度は1。2eVで、精度の高い元素および化学分析が可能です。要するに、HITACHI S-4500 Type Iは、高性能イメージングと解析能力を必要とする研究者にとって理想的な選択肢です。
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