中古 HITACHI S-4300 #9164240 を販売中
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ID: 9164240
ヴィンテージ: 1999
Scanning Electron Microscope (SEM)
Manual stage system
Operating system: Window NT
Secondary electron image resolution:
1.5 nm or better at 15 kV
5.0 nm or better at 1 kV
Operating system: Windows NT
Magnification: 20x, ~5,000,000x
Accelerating voltage: 0.5, ~30 kV (Variable at 0.1 kV/step)
Image shift: ±3 μm (W.D=30 mm)
Image navigation: Standard for motor drive stage
Specimen thickness: 17 mm
Specimen size through airlock: 100 mm diameter
Specimen stage:
Stage / Standard stage / Large stage
X / 0~25 mm / 0~100 mm
Y / 0~25 mm / 0~50 mm
Z / 5~30 mm / 5~35 mm
R / 360° / 360°
T / -5~+45° / -5~+60°
Electron optics:
Electron source: Cold field emission electron source
Objective aperture: Heated type
Detectors:
Secondary electron detector
YAG BSE Detector (option)
Take-off angle for EDX spectrometer: 30°
CRT Display language: English
PC, OS: PC/AT Compatible, windows
Operation: Mouse, keyboard and function rotary knobs
Viewing monitor: 17" LCD
Automated functions:
Auto-focus
Auto-stigmation
Auto-brightness and contrast
Auto-start
Auto-photo modes
Image processing:
Image manager software
Raster rotation
Frame memory:
640 x 480 pixels
1,280 x 960 pixels
2,560 x 1,920 pixels
Image filing: Built in image data base with search functions
Image format: BMP, TIFF, JPEG
Auto data display:
Accelerating voltage
Magnification micron marker
Micron value
Film number
W.D
Date / Hour
Photo magnification
Detector
Vacuum system: Full automated system with pneumatic valves
Attainable vacuum:
~10-7 Pa (Electron gun)
~10-4 Pa (Sample chamber)
Vacuum pumps:
IP: 60 l/s x 1, 20 l/s´2
DP: 570 l/s 1
RP: 140 (168) l/min x 2 for 60 Hz
Protection system: Power, water and vacuum failures
Includes:
Windows base control system: Diffusion pump
Chiller
(2) Rotary pumps
Missing part: SDD Detector
1999 vintage.
HITACHI S-4300は、高分解能の単色走査型電子顕微鏡です。操作の容易さ、生産性の向上、環境負荷の低減を特徴としています。これは、様々な分析および研究アプリケーションのための素晴らしいスキャナです。最大40kVの加速電圧と1。8nmの分解能を調整可能なモデルで、高解像度イメージングとエレメンタル解析の両方に最適です。この顕微鏡はまた、背景ノイズを最小限に抑えるために電子の望ましい波長を選択し、イメージングのコントラストを改善するためにモノクロメータを使用します。この走査型電子顕微鏡の電子光学部品は、不要なノイズを排除しながら、最適で効率的な性能を保証するように設計されています。サンプルチャンバーは、高真空レベルを維持するためにポンピングシステムでパージされた窒素です。これらの要因により、高解像度スキャン機能を提供しながら、サンプル汚染や劣化の可能性が大幅に低減されます。また、HS-CED （High Sensitivity Conversion Electron Detector）を搭載し、画像解像度とコントラストを向上させる優れた信号対ノイズ性能を提供します。さらに、このデバイスは、二次イオン質量分析（SIMS）に使用できるElectro Spray Ionization Module （ESI）を備えています。このデータは、サンプル材料のより詳細な分析のために非常に貴重です。最後に、S-4300は、大面積イメージングまたはin situイメージングに使用できる傾斜ステージを提供します。この機能はオペレータが標準的な静的なイメージ投射とより大きい区域を見ることを可能にします；これは、より小さな粒子を見つけたり、複数の角度からサンプルの構造を調べるのに役立ちます。全体として、S 4300は走査型電子顕微鏡において優れた性能を発揮します。その調整可能な電圧、高解像度のイメージング機能、および信号対ノイズ性能により、さまざまな研究および分析アプリケーションで正確で強力な結果が得られます。傾斜サンプルホルダーは、大面積イメージングのための機器の容量をさらに強化します。このデバイスは、材料科学イメージング、品質管理、ナノテクノロジー研究に最適です。
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