中古 HITACHI S-4300 #9112452 を販売中

HITACHI S-4300は、表面特性評価用に設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。フィールドエミッションスキャン電子顕微鏡（FE-SEM）で、高品質の電子ビームを生成するためのフィールドエミッションソースを採用しています。幅広いサンプルの高精細画像・解析が可能な使いやすいシステムです。HITACHI S 4300は、0。8nmを超える超高解像度を誇り、非常に小さな特徴を観察し、サンプルの構造を非常に詳細に特徴付けることができます。エネルギー分散型X線分光計（EDS）を搭載し、精度の高い元素特性評価を行うことができます。これらの機能を組み合わせることで、生体系の電子顕微鏡、ナノテクノロジー材料、故障解析、教育目的などの用途に最適です。S-4300は大きなサンプルを扱うことができ、そのアクセシビリティにより、最大100,000xの倍率範囲での観察と分析が可能です。0〜90度の角度調整が可能な幅広いステージ傾斜機能を備えています。これにより、トロイダルの研究や傾斜面の観察に適しています。また、後方散乱電子イメージングや二次電子イメージングなどの高度なイメージング技術も備えています。逆散乱された電子は表面の特徴を明らかにし、二次電子は材料の細かい詳細を示します。また、S 4300は「、ギャラリーイメージング」と呼ばれる二次電子イメージングの自動化バージョンを提供しており、サンプルから検出器までの距離が低い場合にサンプルの広範囲を迅速にスキャンするのに役立ちます。これらの機能により、HITACHI S-4300は、10nm以下の解像度で迅速にデータを収集することができます。また、HITACHI S 4300には強力なXYZピエゾモータを搭載し、x、 y、 Z軸面での自動移動が可能です。これにより、ラスタースキャンやラインスキャンなどのスキャンパターンを自動化できます。この自動化されたムーブメントは、より高速で高解像度の画像に、より少ない充電アーティファクトを提供します。要するに、S-4300は、高品質のイメージングと幅広いサンプルの分析を提供することができる高度な機器です。この走査型電子顕微鏡は、高度なイメージングおよび解析機能、超高解像度、および幅広いステージ傾斜機能を備えており、さまざまなアプリケーションにとって非常に貴重なツールです。