中古 HITACHI S-4200 #9288014 を販売中

HITACHI S-4200は、小型構造物を中心とした多種多様な材料を解析するために設計された先進的な走査型電子顕微鏡（SEM）です。このSEMには、400,000xまでのオブジェクトを拡大できる高解像度の拡大イメージング装置が搭載されており、画像解像度は1。2ナノメートルです。HITACHI S 4200は、強力な電子光学系と検出システム、多種多様なサンプルステージを組み合わせています。S-4200に利用可能な幅広いサンプルステージにより、半導体サンプル、ナノスケール天体、生体細胞、材料分数など、さまざまなサンプルタイプを分析できます。S 4200は、2次電子検出器、後方散乱電子検出器、オプションのX線エネルギー分散検出器を備えています。HITACHI S-4200の二次電子検出器は、最大1。2ナノメートルの解像度で拡大した二次電子画像を同時に取得することができます。二次電子検出器は、自動焦点機能を使用して自動SEMイメージングを実行するためにも使用できます。HITACHI S 4200の後方散乱電子検出器は、10ナノメートルの解像度で、低倍率での表面組成解析を可能にします。S-4200は、サンプルを複数のサンプルホルダー間で自動的に移動させる独自の自動サンプリング機能を備えており、快適性と利便性を最大限に高めています。自動サンプリング機能により、実験室試験の効率が向上し、時間を節約し、ヒューマンエラーを低減します。また、サンプルの電子エネルギー損失分光法（EELS）を高精度にマッピングすることができます。また、日立S-4200は、イオンビーム（FIB）フライス加工を可能にします。これは、サンプルに効率的かつ低侵襲性のサンプルを収集する理想的な平均を提供する技術です。また、HITACHI S 4200には、3DViewer、 3DReconstruction、材料分析装置（MAS）など、HITACHIのソフトウェアシステムが複数搭載されています。これらのソフトウェアパッケージは、3Dイメージング機能、コントラストの強化、自動化されたイメージステッチ、その他多くの機能を含む、サンプルの分析に多種多様な機能を提供します。全体として、S-4200は非常に強力で汎用性の高いSEMであり、多様な科学研究および産業用途に使用できます。その能力は、顕微鏡の世界への前例のない洞察力を提供し、科学者やエンジニアが前例のない詳細で物理宇宙を探索し、理解することができます。