中古 HITACHI S-4200 #9216770 を販売中

HITACHI S-4200
製造業者
HITACHI
モデル
S-4200
ID: 9216770
Scanning electron microscopes (SEM).
HITACHI S-4200は、大型試料の観測・解析用に設計された超長距離の走査型電子顕微鏡(SEM)です。FEG (Field Emission Gun)と高速二次電子イメージング機能を備えており、低電圧(0。1kV以下)で精密なイメージングが可能です。HITACHI S 4200は、広いチャンバー深さ(400mm)を備えており、広いサンプルの観察と380mmの長距離の作業が可能で、スペースが限られているサンプルの分析にアクセスできます。S-4200はまた、15kVの最大加速電圧、1 μ Aの電流を持つゼロ度のコンデンサーレンズ、および高速スキャン分割システムを備えています。これにより、正確なイメージングと分析に必要な高解像度と効率が保証されます。Energy Dispersive X-ray analysis (EDS)やElectron Backscatter Diffraction (EBSD)を含む組み込みの分析システムは、材料の結晶構造と組成の決定を可能にします。さらに、冷却装置のカスタマイズ可能な設定により、生体試料の安定した長期イメージングが可能になります。S 4200は、集積回路(IC)、ディーゼルおよび燃料噴射システム、ワイヤーハーネスなどの大規模サンプルのイメージングに最適なデバイスです。このデバイスは、従来のSEMの最大3倍のスループットで高倍率の画像を取得することができます。また、HITACHI S-4200では、他のイメージング手法では得られない、あるいは得られにくい試料の立体構造を得るのに有用な電子断層撮影を行っています。HITACHI S 4200は、大型サンプル用の自動ホルダー付き真空チャンバーを備え、オートローダーやオートアンローダーなどの自動サンプルハンドリングシステムを搭載しています。これにより、チャンバーからのサンプルの容易な転送が可能になり、分析の効率が向上します。S-4200は産業や研究所での使用に適したサイズを持っています。この精密SEMは、最適な分解能イメージングを提供し、生体細胞イメージング、IC欠陥解析、ナノスケール構造観察、その他多くの研究分野に適しています。
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