中古 HITACHI S-4160 #293609361 を販売中

HITACHI S-4160 Scanning Electron Microscope （SEM）は、低倍率から高倍率で動作する高品質のイメージング装置です。最適なイメージング条件を実現する自動光露光制御（ALEC）システムを搭載しています。単位は電子コラム、包装、標本部屋、段階および制御機械で構成されます。電子カラムには、電子源、レンズ、および検出器が含まれています。ケーシングは、磁場を作成するコイルを含むチャンバーとその関連部品を収容します。HITACHI S 4160の試料ステージは、x-y-zとθ- φを選択した手動操作用に設計されています。SEMイメージング用のサンプルホルダーを幅広く取り扱っています（最大サンプルサイズは70mm）。x-y-zステージは、最大70mmのサイズの試料に合うように手動で調整することができますが、θ-φステージは精密な微細な動きを提供し、試料を傾け、回転させ、精密に移動させることができます。SEMの主な機能は、画像の解像度を高めることです。これを実現するために、顕微鏡は、サンプルの表面と内部構造を非常に高い倍率で検出できる、厳密に集中した電子ビームを作成します。S-4160には、一般的にBibliographic Thematic （BTF）検出器として知られているエネルギーフィルター検出器（EFD）が装備されています。この機能により、最大解像度と最適な画像鮮明度を実現します。このツールには、複数の観測点で理想的な画像を提供するマルチアングル二次電子イメージング（MASE）検出器もあります。S 4160はHiCalc Plus7ソフトウェアで動作し、顕微鏡の操作を簡素化し、さまざまな画像処理機能にアクセスできます。このソフトウェアは、画像解析、測定、操作の3つの主要なセクションに分類されます。これらのセクションにはそれぞれ独自のコマンドと関数があります。画像解析セクションでは、条件解析、ヒストグラム、3Dレンダリング、スキャンなどの機能を複数のスケールで提供しています。［Measurement］セクションでは、詳細なラインとエリアデータの保存を支援します。操作セクションでは、ユーザーがイメージング資産の校正、ステージ、真空、電子設定の調整を行うことができます。また、フォトモンタージュや3Dトモグラフィーなどの他の機能も開きます。HITACHI S-4160は、高解像度、高精度、再現性に優れたイメージングモデルであり、高倍率で試験片を検査するための迅速で信頼性の高い費用対効果の高い方法を提供します。マテリアルサイエンス、半導体技術、生物学研究など幅広い用途に対応した貴重なイメージングツールです。