中古 HITACHI S-4160 #180092 を販売中

HITACHI S-4160 Scanning Electron Microscope （SEM）は、幅広いサンプルタイプの詳細な顕微鏡画像を提供するために設計された高度なイメージングおよび分析ツールです。このデバイスは、焦点を当てたイオンビームを使用してサンプルの表面をスキャンし、日常の写真よりも最大100万倍も多くできるものを描いた拡大デジタル画像を生成します。HITACHI S 4160は、電子カラムを5-105kVすることで、エネルギー分散型X線 （EDX）、反射測定、信号処理などの各種イメージングや解析を行うことができる独自の機能を備えています。また、粒界、粒径分布などの微細な特徴を定量的に測定し、元素組成、化学組成、地形を分析することもできます。S-4160の最大作動距離は15mmで、電子ビームエネルギー分解能は0。2〜2keVです。画像のサイズは85nm〜30 µmで、解像度は12,000 ピクセル/mmです。また、SEモードでは最大8フレーム/秒、SEモードでは最大200フレーム/秒の応答時間があります。このデバイスは、スティグメータとフォーカスコントロールの両方の低ドリフトからも利点があり、スティグメータのオン/オフ時間は0。25以下です。このデバイスには、イメージングおよび解析プロセスの両方を最適化するための多数のユーザーオプションがあり、マルチセグメント電流および電圧シフトにより、従来のSEMよりも明確な利点があります。S 4160には、元素分析用の多目的な機能セットも組み込まれており、デバイスはサンプルに存在するさまざまな要素を正確に画像化することができます。エネルギー分散型X線検出器を搭載した日立S-4160では、最大15,000カウント/秒の検出が可能で、試料上のさまざまな元素の分布や濃度を決定するのに役立ちます。組成解析のために、このデバイスは自動化されたシリコンドリフト検出器とX線源リフトオフ制御により、正確な測定を提供します。HITACHI S 4160 Scanning Electron Microscopeは、最先端の技術を駆使した先進的な画像解析システムです。その優れた感度と解像度は比類のないイメージングを提供しますが、元素解析と組成解析の両方を含む高度な分析機能により、研究および科学的アプリケーションに理想的なソリューションとなります。