中古 HITACHI S-3700N #293797824 を販売中

HITACHI S-3700Nは、高分解能サブミクロンイメージング用に設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。これは、ミクロンおよびサブミクロンレベルの解像度に最適な、熱的および振動的に安定した超高真空カラム設計を特徴としています。このSEMは、最大の画像コントラストと画像解像度を提供するために最適化された古典的なバックスキャッターおよび二次電子検出器を利用しています。HITACHI S 3700 Nは、デジタルイメージ処理機能を使用して、画像のコントラストとカラーの強化を実現します。S-3700Nはまた、高加速電圧で設計されており、繊細なサンプルを損傷するリスクなしに高解像度の画像に到達することができます。高電圧イメージング機能と低ノイズ性能、高度なデジタル画像処理により、異なる種類の材料の非常に詳細な画像をキャプチャすることができます。S 3700 Nには、地形を容易に取得するプロセスを自動化したステージオプションもあります。この機能により、ユーザーの入力が少ないサンプルの広い領域をすばやくスキャンできます。また、オートフォーカス機能を搭載しているため、細部にまでこだわったより小さな生物標本や化学標本の画像を取得することができます。また、HITACHI S-3700Nは、スキャン透過電子顕微鏡（STEM）などの高度なイメージング技術を使用して、特定のサンプルに余分なコントラストを提供しています。サンプル内部の表面構造を正確に測定するための定常波顕微鏡も利用できます。SEMとSTEMの同時イメージングにより、同じサンプルの地形画像と組成画像を素早く簡単に取得できます。HITACHI S 3700 Nには、ダークフィールドと明るいフィールドの両方の画像をキャプチャできるパフォーマンスカメラが搭載されています。その高度なソフトウェアは、取得したデータを整理し、分析するのに役立つユーザーフレンドリーなグラフィカルユーザーインターフェイス（GUI）を提供しています。システムソフトウェアは、データ分析と処理を自動化し、サンプルを効率的に分析することができます。S-3700Nは、故障解析、半導体デバイス解析、材料科学、生物研究などの分野で広く使用されています。S 3700 Nは、高度なイメージング機能と高度なソフトウェアを備えており、これらの研究分野の研究者にとって理想的なツールです。