中古 HITACHI S-3700N #293748677 を販売中

製造業者
HITACHI
モデル
S-3700N
ID: 293748677
ヴィンテージ: 2012
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) 2012 vintage.
HITACHI S-3700Nは、ナノスケールレベルでの各種材料の高解像度イメージングおよび解析用に設計された洗練された走査型電子顕微鏡(SEM)です。この強力な装置は、材料科学、ナノテクノロジー、生物学など、幅広い分野の研究開発に理想的な高度な機能と能力を備えています。この包括的な技術説明では、HITACHI S 3700 N SEMの主要なコンポーネント、仕様、およびアプリケーションについて説明します。主な構成要素と動作原理:S-3700Nは高性能な電子カラムを備えており、非常に明瞭で解像度の高い画像標本のための集中電子ビームを生成します。電子カラムは、タングステンフィラメント電子銃、コンデンサーレンズ、および試料表面を横切る電子ビームの位置と動きを制御するスキャンコイルで構成されています。SEMの中心には、試料と相互作用する電子を捕捉して高解像度の画像を生成する電子検出器システムがあります。S 3700 Nには、ナノスケールの試料の地形、組成、形態に関する詳細な情報を提供する高度な二次電子および逆散乱電子検出器が装備されています。この顕微鏡には、正確な標本の位置決めとナビゲーションのための精密ステージも含まれており、ユーザーは複数の興味のある領域を精度と効率で分析することができます。さらに、ユーザーが簡単にSEM画像を取得、処理、分析することができる高度なイメージングおよび分析ソフトウェアが装備されています。HITACHI S-3700N SEMは、高度な研究開発アプリケーションのための汎用性の高いツールとなる優れた仕様を提供します。この顕微鏡は最大30kVの加速電圧を備えており、金属やセラミックスから生体試料やポリマーまで、幅広い材料の高分解能イメージングを可能にします。HITACHI S 3700 Nは、最大500,000xの倍率で、ナノスケールの特徴や構造の詳細な画像を、卓越した明瞭さと精度でキャプチャすることができます。また、二次電子イメージング、後方散乱電子イメージング、組成マッピングなど、幅広いイメージングモードを提供しており、試験対象の標本に関する包括的な情報を得ることができます。さらに、S-3700Nには、スポットサイズ制御、スキャン回転、ダイナミックフォーカス調整などの高度なビーム制御およびナビゲーション機能が搭載されており、さまざまなサンプルタイプや分析要件に合わせてイメージングパラメータを最適化できます。この顕微鏡は、操作とデータ収集を簡素化する直感的なユーザーインターフェイスも備えており、初心者でも経験豊富なユーザーでも理想的です。用途と研究分野:S 3700 N SEMは、材料科学、ナノテクノロジー、地質学、生物学、法医学など、幅広い分野で使用されています。研究者と科学者は、材料の微細構造と特性を調査し、ナノ粒子とナノ構造の形態を研究し、細胞レベルと細胞レベルの生物学的サンプルを分析し、さまざまな材料の元素組成分析を行うための機器に依存しています。材料科学では、金属、セラミックス、ポリマー、複合材料の微細構造を研究するために日立S-3700Nを使用し、材料の構造と特性の関係を理解することができます。ナノテクノロジーでは、この顕微鏡を用いて、エレクトロニクス、触媒、薬物送達などのさまざまな用途のナノ材料およびナノ構造を特徴付ける。HITACHI S 3700 Nは、生物学において、細胞、組織、生物などの生物学的サンプルを用いて、ナノスケールにおける生物学的プロセス、細胞構造、疾患メカニズムの研究を行っています。法医学者はまた、SEMを使用して、繊維、粒子、ツールマークなどの痕跡証拠を分析し、刑事捜査や裁判手続を支援します。結論として、S-3700N走査型電子顕微鏡は、高解像度イメージング、高度な分析機能、および幅広い研究開発アプリケーションのための直感的な操作を提供する強力で汎用性の高い機器です。S 3700 Nは、優れた仕様、性能、アプリケーションを備えており、ナノワールドを探索し、知識とイノベーションの境界を押し広げようとする科学者、研究者、エンジニアにとって非常に貴重なツールです。
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