中古 HITACHI S-3700N #293648335 を販売中

HITACHI S-3700Nは、高倍率でサンプルを研究できる走査型電子顕微鏡（SEM）です。サンプルの表面をスキャンする電子ビームを介してサンプルの画像を提供します。HITACHI S 3700 Nで可能な倍率は3,000,000xに達することができ、顕微鏡構造の検査に最適です。装置には、本体のSEMユニットと、本体の下に取り付けられたサンプルステージが含まれています。SEMユニットは、プログラマブルコントローラ、電子銃、検出器、および操作パネルとディスプレイパネルを備えたメインコントロールパネルを備えています。サンプルステージは、サンプルの高さを制御することにより、フラットサンプル、パーティクル、固定サンプルなど、さまざまなサンプルタイプに対応するように設計されています。さらに、サンプルステージには真空アプリケーション用の可変圧力チャンバーと傾斜表示用の可変角度ステージがあります。S-3700Nによって生成される電子ビームは、メインコントロールパネルによって制御されます。ビームは、画像の解像度、倍率、コントラスト、およびスキャンされた線の数、スキャン速度、および画像が生成される速度を調整します。これらのパラメータを制御することで、ビームはさまざまなサンプルタイプに最適化できます。S 3700 Nの検出器システムも高感度です。検出器は、試料表面に散乱した電子を検出することができ、高解像度の画像処理が可能です。散乱した電子のエネルギーを測定し、元素組成のために分析します。これにより、より正確なイメージングと分析機能が可能になります。また、HITACHI S-3700Nは、イメージング環境から空気を取り除き、画質を向上させる真空絶縁ユニットを備えています。このマシンはまた、動きを制限し、サンプルの整合性を向上させる振動絶縁ツールを備えています。全体として、HITACHI S 3700 Nは、科学研究と産業研究の両方に適した高度な走査型電子顕微鏡です。その高度な電子光学系と検出器システムは、その高分解能と倍率機能と相まって、さまざまなアプリケーションに最適です。