中古 HITACHI S-3600N #9314101 を販売中

HITACHI S-3600Nは、高性能イメージング機能を備えた走査型電子顕微鏡（SEM）です。ショットキーエレクトロンマルチプライヤー（SEM）と波長分散X線検出器を搭載し、表面の特徴と組成を高分解能かつ定量的に解析します。S-3600Nに50mmまでの印象的な作動間隔があります、それは標本の観覧および分析の大きい柔軟性を提供します。0。1kV〜30kVの高張力電圧範囲は、優れた画質と検出限界を提供し、ナノスケールの特徴を詳細に分析することができます。HITACHI S-3600Nは、直径300mmまでのサンプルに対応できる大型のサンプルサイズ範囲を有しています。インカラムのエネルギーフィルタは、最大10 μ s/チャネルの滞留時間が可能なため、非常に小さな粒子でも検出および観察することができます。S-3600Nには、標準的で複雑な表面フィーチャーのイメージングを可能にするイメージングモードの完全なスペクトルがあります。二次電子イメージング（SEI）、背面散乱電子イメージング（BSEI）、後方散乱電子回折（BED）、 X線放射、電子ビーム誘導電流（EBIC）、電子ビーム分光（EBS）のすべてを標準的な非破壊特性に使用できます。HITACHI S-3600Nは、EBSD用の二次電子検出器、複数のX線検出器、エネルギーフィルター、配列検出器など、さまざまな検出器を使用しています。これらの検出器は、結晶構造や化学組成などの表面の特徴を定量的に解析します。S-3600Nの高真空チャンバーは、低メンテナンスであり、低ノイズと電子ビーム軌道安定性を持つ画像を生成します。内蔵の振動減衰システムにより、イメージングの不安定性を低減し、追加のアライメントなしで高解像度の画像を提供します。EasyBeamレンズのアライメント機能により、ユーザーは電子ビームを試験片に素早く正確にアライメントすることができます。HITACHI S-3600Nは、大型10。4インチの明るい液晶モニター、ワンタッチジョイスティック制御、Ez-Navigationホットキーによる便利な操作を提供します。高速インテルXeonプロセッサーと最先端のエレクトロニクスを搭載し、堅牢で信頼性の高い動作を提供します。S-3600Nは、高度な特徴とイメージング能力を兼ね備えており、材料科学研究における電子イメージングと表面解析に最適です。このシステムは、高解像度イメージングアプリケーションに強力かつ経済的なソリューションを提供します。