中古 HITACHI S-3500N #9291860 を販売中

HITACHI S-3500Nは、広く使用されている高解像度走査型電子顕微鏡（SEM）です。金属、ポリマー、セラミックス、複合材料など様々な材料の微細構造を調べるのに最適な機能を備えています。S-3500N SEMの主な機能は、解像度2。5nmのサーフェスの画像を生成することです。SEMは、タングステンフィラメントを使用して、分析されるサンプルに焦点を当てた電子ビームを作成します。試料は、電子探知器によって集められ、検出される逆散乱または二次電子によって、観察段階を横切ってスキャンされます。SEMは30kxまでのイメージを拡大するのに使用することができます。また、HITACHI S-3500Nには、エネルギー分散型X線検出器（EDS）を搭載しており、分析対象サンプルの元素解析が可能です。このEDS検出器は、ホウ素や塩素などの軽元素、ウランや鉛などの重元素など幅広い元素を検出することができます。その後、元素解析情報を使用して元素マップを作成し、研究者が材料に関するさらなる洞察を得ることができます。S-3500Nには、オートフォーカス制御やステージ傾き補正など、さまざまな自動機能が搭載されており、クリアな画像をすばやく取得できます。SEMには、正確で正確な画像処理を可能にするオートスティグメータもあります。HITACHI S-3500N SEMの最大の特徴は、低ノイズで超高解像度の画像を作成することです。これにより、研究者は、研究されている材料の微細構造に関する貴重な洞察を得ることができます。SEMにはユーザーフレンドリーなインターフェイスもあり、使いやすいです。結論として、S-3500Nは強力な走査型電子顕微鏡であり、様々な材料の微細構造の解析に最適です。オートフォーカスとステージ傾き補正システム、元素分析用のエネルギー分散X線検出器（EDS）、正確かつ正確な画像処理のためのオートスティグメータなど、多くの機能を備えています。HITACHI S-3500Nは、解像度2。5nmの画像を作成することができ、詳細な結果を求める研究者に最適なツールです。